[发明专利]缺陷检测方法、检测装置及触控显示面板的检测方法

权利要求书

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：

获取待检测物的检测图像，所述检测图像包括初始灰阶曲线，所述初始灰阶曲线为所述待检测物的检测位置与对应所述检测位置所检到的初始灰阶值的关系曲线，所述初始灰阶曲线具有多个灰阶峰部；

降低所述初始灰阶曲线中的多个所述灰阶峰部之间的灰阶差异，使得各所述检测位置对应的所述初始灰阶值转化为处理后灰阶值，所述初始灰阶曲线转化为处理后灰阶曲线，其中，所述降低所述初始灰阶曲线中的多个所述灰阶峰部之间的灰阶差异包括：降低噪点对应的所述灰阶峰部与剩余所述灰阶峰部之间的灰阶差异，或者，对所述初始灰阶曲线中的全部所述初始灰阶值进行数值缩小化的预设映射；

向所述处理后灰阶曲线匹配对应的缺陷阈值线，所述向所述处理后灰阶曲线匹配对应的缺陷阈值线包括：向所述处理后灰阶曲线匹配对应的缺陷阈值曲线，在所述缺陷阈值曲线中，至少任意两点所述检测位置各自对应的灰阶阈值不同，其中，所述向所述处理后灰阶曲线匹配对应的缺陷阈值曲线包括：将所述处理后灰阶曲线在所述检测位置的坐标方向上划分为连续相邻的多个区段，获取区段各自对应的平均灰阶值，所述平均灰阶值为对应所述区段的所述处理后灰阶值的平均值，根据所述区段对应的所述平均灰阶值获得对应的区段灰阶阈值，以及，将各所述区段对应的所述区段灰阶阈值拟合，得到所述缺陷阈值曲线；以及

根据所述处理后灰阶曲线以及所述缺陷阈值线获取所述待检测物的缺陷位置。

2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，对所述初始灰阶曲线中的全部所述初始灰阶值进行数值缩小化的预设映射时，所述预设映射为将所述初始灰阶值乘以预设比例，所述预设比例大于0且小于1。

3.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述处理后灰阶曲线以及所述缺陷阈值线获取所述待检测物的缺陷位置包括：

比对各所述检测位置所对应的所述处理后灰阶值、所述灰阶阈值；

将所述处理后灰阶值大于等于所述灰阶阈值的所述检测位置标记为所述缺陷位置。

4.一种缺陷检测装置，其特征在于，包括：

图像获取模块，用于获取待检测物的检测图像，所述检测图像包括初始灰阶曲线，所述初始灰阶曲线为所述待检测物的检测位置与对应所述检测位置所检到的初始灰阶值的关系曲线，所述初始灰阶曲线具有多个灰阶峰部；

降差异模块，与所述图像获取模块耦合，用于降低所述初始灰阶曲线中的多个所述灰阶峰部之间的灰阶差异，使得各所述检测位置对应的所述初始灰阶值转化为处理后灰阶值，所述初始灰阶曲线转化为处理后灰阶曲线；

阈值配置模块，与所述降差异模块耦合，用于向所述处理后灰阶曲线匹配对应的缺陷阈值线，所述阈值配置模块包括：分区模块，用于将所述处理后灰阶曲线在所述检测位置的坐标方向上划分为连续相邻的多个区段，平均值模块，用于获取所述区段各自对应的平均灰阶值，所述平均灰阶值为对应所述区段的所述处理后灰阶值的平均值，区段灰阶阈值模块，用于根据所述区段对应的所述平均灰阶值获得对应的区段灰阶阈值，拟合模块，用于将各所述区段对应的所述区段灰阶阈值拟合，得到缺陷阈值曲线；以及

缺陷标记模块，与所述降差异模块以及所述阈值配置模块耦合，用于根据所述处理后灰阶曲线以及所述缺陷阈值线获取所述待检测物的缺陷位置。

5.一种触控显示面板的检测方法，其特征在于，通过根据权利要求1至3任一项所述的缺陷检测方法对所述触控显示面板的触控图案进行缺陷检测。