[发明专利]缺陷检测方法、检测装置及触控显示面板的检测方法

说明书

本发明公开了一种缺陷检测方法、检测装置及触控显示面板的检测方法。缺陷检测方法包括：获取待检测物的检测图像，初始灰阶曲线具有多个灰阶峰部；降低初始灰阶曲线中的多个灰阶峰部之间的灰阶差异，初始灰阶曲线转化为处理后灰阶曲线；向处理后灰阶曲线匹配对应的缺陷阈值线，缺陷阈值线为待检测物的检测位置与对应检测位置若产生缺陷时的灰阶阈值的关系线；以及根据处理后灰阶曲线以及缺陷阈值线获取待检测物的缺陷位置。根据本发明实施例的缺陷检测方法，能够提高缺陷的检出能力。

技术领域

本发明涉及缺陷检测领域，具体涉及一种缺陷检测方法、检测装置及触控显示面板的检测方法。

背景技术

显示面板在制造过程中，可能因为工艺的问题导致显示面板中存在缺陷。为发现显示面板中的缺陷，需要对显示面板进行检测，从而找到显示面板中的缺陷位置，并针对性进行改善。

由于显示面板上的器件结构尺寸非常微小，人眼几乎无法分辨，为满足对显示面板缺陷检测的需求，自动光学检测(Automated Optical Inspection，AOI)应运而生。

显示面板可以集成有触控层，即显示面板可以是触控显示面板。在利用AOI针对触控显示面板的触控层进行缺陷检测时，由于触控层的图案周期通常较大，利用AOI技术时无法使用常规的周边对比方式进行检测，而需要采用长周期对比方式进行检测。然而，当采用长周期对比方式进行检测时，工艺制程中的噪点会导致灰阶差异较大，从而造成缺陷的检出率较低的问题。

发明内容

本发明提供一种缺陷检测方法、检测装置及触控显示面板的检测方法，提高缺陷的检出能力。

第一方面，本发明实施例提供一种缺陷检测方法，其包括：获取待检测物的检测图像，检测图像包括初始灰阶曲线，初始灰阶曲线为待检测物的检测位置与对应检测位置所检到的初始灰阶值的关系曲线，初始灰阶曲线具有多个灰阶峰部；降低初始灰阶曲线中的多个灰阶峰部之间的灰阶差异，使得各检测位置对应的初始灰阶值转化为处理后灰阶值，初始灰阶曲线转化为处理后灰阶曲线；向处理后灰阶曲线匹配对应的缺陷阈值线；以及根据处理后灰阶曲线以及缺陷阈值线获取待检测物的缺陷位置。

根据本发明第一方面的上述任一实施方式，降低初始灰阶曲线中的多个灰阶峰部之间的灰阶差异包括：降低噪点对应的灰阶峰部与剩余灰阶峰部之间的灰阶差异。

根据本发明第一方面的上述任一实施方式，降低初始灰阶曲线中的多个灰阶峰部之间的灰阶差异包括：对初始灰阶曲线中的全部初始灰阶值进行数值缩小化的预设映射。

根据本发明第一方面的上述任一实施方式，预设映射为将初始灰阶值乘以预设比例，预设比例大于0且小于1。

根据本发明第一方面的上述任一实施方式，向处理后灰阶曲线匹配对应的缺陷阈值线包括：向处理后灰阶曲线匹配对应的缺陷阈值曲线，在缺陷阈值曲线中，至少任意两点检测位置各自对应的灰阶阈值不同。

根据本发明第一方面的上述任一实施方式，向处理后灰阶曲线匹配对应的缺陷阈值曲线包括：将处理后灰阶曲线在检测位置的坐标方向上划分为连续相邻的多个区段；获取区段各自对应的平均灰阶值，平均灰阶值为对应区段的处理后灰阶值的平均值；根据区段对应的平均灰阶值获得对应的区段灰阶阈值；以及将各区段对应的区段灰阶阈值拟合，得到缺陷阈值曲线。

根据本发明第一方面的上述任一实施方式，根据处理后灰阶曲线以及缺陷阈值线获取待检测物的缺陷位置包括：比对各检测位置所对应的处理后灰阶值、灰阶阈值；将处理灰阶值大于等于灰阶阈值的检测位置标记为缺陷位置。