[发明专利]双滤光镜切换器的异常检测方法、装置、设备和介质在审
申请号: | 201911359491.8 | 申请日: | 2019-12-25 |
公开(公告)号: | CN113031386A | 公开(公告)日: | 2021-06-25 |
发明(设计)人: | 张鹏国;姚秋爽 | 申请(专利权)人: | 浙江宇视科技有限公司 |
主分类号: | G03B43/00 | 分类号: | G03B43/00;G03B17/14 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 310051 浙江省杭州市滨江区西兴街道江陵路*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 滤光 切换 异常 检测 方法 装置 设备 介质 | ||
本发明实施例公开了一种双滤光镜切换器的异常检测方法、装置、设备和介质。其中方法包括:当双滤光镜切换器使用的滤光片由第一滤光片向第二滤光片切换时,控制图像传感器基于双滤光镜切换器切换后的滤光片采集图像;将图像的格式转换为HSV格式,得到HSV格式图像;获取第二滤光片对应的颜色信息;根据颜色信息,从HSV格式图像中提取至少一张颜色图像,并确定每张颜色图像中颜色区域的面积占比;若任一颜色图像中颜色区域的面积占比大于颜色图像的面积占比阈值,则确定双滤光镜切换器出现异常。本发明实施例实现对双滤光镜切换器异常的自动化检测,节省了人力成本,提高了对双滤光镜切换器的异常检测效率。
技术领域
本发明实施例涉及滤光镜切换技术领域,尤其涉及一种双滤光镜切换器的异常检测方法、装置、设备和介质。
背景技术
现如今,电荷耦合元件(Charge Coupled Device,简称为:CCD)传感器(Sensor)或者互补金属氧化物半导体(Complementary Metal-Oxide Semiconductor,简称为:CMOS)传感器的感光频段远超过人眼。为了保证图像颜色的准确性,在外界光照强度充足情况下,需要使用双滤光镜切换器(IR-CUT)中的红外滤光片将一定频段的光线滤除,以使CCD传感器或CMOS传感器利用未被滤除的光线拍摄图像;在外界光照强度不足情况下,使用IR-CUT中的全通滤光片,以使CCD传感器或CMOS传感器根据全部光线拍摄图像。
IR-CUT是由结构支架、滤光片组合、电磁或电机驱动等部件组成,那么当结构支架尺寸存在误差,各部件之间间距余量不足或者驱动不足时,都会引起IR-CUT出现异常,导致拍摄的图像异常。在实际使用过程中,当拍摄的图像异常时,通常是通过人工对异常图像进行分析,确定IR-CUT是否能正常工作,这就需要消耗大量人力成本,且效率低下。
发明内容
本发明实施例提供一种双滤光镜切换器的异常检测方法、装置、设备和介质,实现对双滤光镜切换器的异常的自动化检测,节省了人力成本,提高了对双滤光镜切换器的异常检测效率。
第一方面,本发明实施例提供了一种双滤光镜切换器的异常检测方法,该方法包括:
当双滤光镜切换器使用的滤光片由第一滤光片向第二滤光片切换时,控制图像传感器基于所述双滤光镜切换器切换后的滤光片采集图像;
将所述图像的格式转换为HSV格式,得到HSV格式图像;
获取所述第二滤光片对应的颜色信息;
根据所述颜色信息,从所述HSV格式图像中提取至少一张颜色图像,并确定每张颜色图像中颜色区域的面积占比;
若任一颜色图像中颜色区域的面积占比大于所述颜色图像的面积占比阈值,则确定所述双滤光镜切换器出现异常。
第二方面,本发明实施例还提供了一种双滤光镜切换器的异常检测装置,该装置包括:
控制模块,用于当双滤光镜切换器使用的滤光片由第一滤光片向第二滤光片切换时,控制图像传感器基于所述双滤光镜切换器切换后的滤光片采集图像;
格式转换模块,用于将所述图像的格式转换为HSV格式,得到HSV格式图像;
信息获取模块,用于获取所述第二滤光片对应的颜色信息;
第一确定模块,用于根据所述颜色信息,从所述HSV格式图像中提取至少一张颜色图像,并确定每张颜色图像中颜色区域的面积占比;
第二确定模块,用于若任一颜色图像中颜色区域的面积占比大于所述颜色图像的面积占比阈值,则确定所述双滤光镜切换器出现异常。
第三方面,本发明实施例还提供了一种电子设备,该电子设备包括:
摄像头;
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