[发明专利]用于辐射检查的探测器及探测装置在审
| 申请号： | 201911363127.9 | 申请日： | 2019-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN113031044A | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 李树伟;张清军;邹湘;朱维彬;赵博震;王钧效 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/20 | 分类号： | G01T1/20 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 倪斌 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 辐射 检查 探测器 探测 装置 | ||
1.一种用于辐射检查的探测器，包括：
灵敏介质，其与入射到探测器的入射光进行反应，从而产生高能辐射光和低能辐射光；
高能光电转换器件，被设置在所述灵敏介质的远离所述入射光的一端处，用于探测所述高能辐射光；以及
低能光电转换器件，被设置在所述灵敏介质的靠近所述入射光的一端处，用于探测所述低能辐射光。
2.根据权利要求1所述的探测器，还包括：
反射层，被设置在所述灵敏介质外表，且是表面抛光的。
3.根据权利要求1所述的探测器，还包括：
第一数据读出电路，被配置为与所述高能光电转换器件连接，用于将所述高能光电转换器件所探测的高能辐射光转换为数字信号；以及
第二数据读出电路，被配置为与所述低能光电转换器件连接，用于将所述低能光电转换器件所探测的低能辐射光转换为数字信号。
4.根据权利要求1所述的探测器，其中，所述灵敏介质具有使得对所述入射光的总探测效率大于80％的质量厚度。
5.根据权利要求1所述的探测器，其中，所述灵敏介质对所述高能辐射光和所述低能辐射光的折射率大于2.0。
6.根据权利要求1所述的探测器，其中，所述灵敏介质是由衰减时间大于所述入射光的脉冲宽度的材料形成的。
7.根据权利要求1所述的探测器，其中，所述灵敏介质外表面涂覆有反射物质。
8.根据权利要求6所述的探测器，其中，所述入射光的脉冲宽度小于10μs。
9.根据权利要求1所述的探测器，其中，所述入射光是由电子加速器产生的X射线束脉冲。
10.根据权利要求1所述的探测器，其中，所述高能辐射光包括高能闪烁光和切伦科夫辐射光，所述低能辐射光包括低能闪烁光。
11.一种用于辐射探测的探测装置，包括：
辐射源，被配置为向被检对象辐射光；
由根据权利要求1-10中任一项所述的探测器组成的阵列，被配置为对穿过所述被检物体的辐射光进行探测。
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