[发明专利]消除圈纹效应的方法及装置

权利要求书

1.一种消除圈纹效应的方法，包括：

藉由一相机拍摄光线照射一标准菲涅耳透镜的一标准圈纹成像；

根据上述标准圈纹成像建立一补偿查找表，并取得一标准圈纹中心点；

藉由上述相机拍摄光线照射一待测菲涅耳透镜的一圈纹成像；

根据上述圈纹成像取得一圈纹中心点；

取得上述圈纹中心点与上述标准圈纹中心点之间的一转换关系；以及

根据上述补偿查找表及上述转换关系对上述圈纹成像执行一补偿程序，以消除上述圈纹成像中的一圈纹效应。

2.如权利要求1所述的消除圈纹效应的方法，其中根据上述标准圈纹成像建立上述补偿找查表的步骤更包括：

取得上述标准圈纹成像正中央一范围的一平均灰阶值；

以上述平均灰阶值对上述标准圈纹成像的每一像素的一灰阶值进行一正规化处理，并得到对应每一像素的一正规化补偿值；以及

产生包括上述像素及对应每一像素的上述正规化补偿值的上述补偿查找表。

3.如权利要求1所述的消除圈纹效应的方法，其中根据上述圈纹成像取得上述圈纹中心点的步骤更包括：

使用一滤波视窗与上述圈纹成像进行一折积运算，以输出一灰阶圈纹图像；以及

根据上述灰阶圈纹图像的特征强度取得上述圈纹中心点。

4.如权利要求1所述的消除圈纹效应的方法，其中上述圈纹中心点与上述标准圈纹中心点之间的上述转换关系表示如下：

其中，(x₀,y₀)为圈纹中心点，(x₁,y₁)为标准圈纹中心点，Δt_x及Δt_y分别为x₀及y₀平移至x₁及y₁的距离。

5.如权利要求1所述的消除圈纹效应的方法，其中上述圈纹中心点与上述标准圈纹中心点之间的上述转换关系表示如下：

其中(x₂,y₂)为上述圈纹中心点，(x₁,y₁)为上述标准圈纹中心点，为一仿射变换矩阵，其中s_x、s_y分别为校正前与校正后的在X与Y轴上的放大率差异，t_x、t_y分别为X方向与Y方向的位移，θ为旋转角度。

6.一种消除圈纹效应的装置，包括：

一或多个处理器；以及

一或多个计算机储存介质，储存计算机可读取指令，其中上述处理器使用上述计算机储存介质以执行：

藉由一相机拍摄光线照射一标准菲涅耳透镜的一标准圈纹成像；

根据上述标准圈纹成像建立一补偿查找表，并取得一标准圈纹中心点；

藉由上述相机拍摄光线照射一待测菲涅耳透镜的一圈纹成像；

根据上述圈纹成像取得一圈纹中心点；

取得上述圈纹中心点与上述标准圈纹中心点之间的一转换关系；以及

根据上述补偿查找表及上述转换关系对上述圈纹成像执行一补偿程序，以消除上述圈纹成像中的一圈纹效应。

7.如权利要求6所述的消除圈纹效应的装置，其中上述处理器根据上述标准圈纹成像建立一补偿找查表的步骤更包括：

取得上述标准圈纹成像正中央一范围的一平均灰阶值；

以上述平均灰阶值对上述标准圈纹成像的每一像素的一灰阶值进行一正规化处理，并得到对应每一像素的一正规化补偿值；以及

产生包括上述像素及对应每一像素的上述正规化补偿值的上述补偿查找表。

8.如权利要求6所述的消除圈纹效应的装置，其中上述处理器根据上述圈纹成像取得上述圈纹中心点的步骤更包括：

使用一滤波视窗与上述圈纹成像进行一折积运算，以输出一灰阶圈纹图像；以及

根据上述灰阶圈纹图像的特征强度取得上述圈纹中心点。