[发明专利]消除圈纹效应的方法及装置在审
申请号: | 201911363131.5 | 申请日: | 2019-12-26 |
公开(公告)号: | CN112954301A | 公开(公告)日: | 2021-06-11 |
发明(设计)人: | 林晔;杨文助;杨继贤 | 申请(专利权)人: | 广达电脑股份有限公司 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 李芳华 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 消除 效应 方法 装置 | ||
本公开提出一种消除圈纹效应的方法,包括:藉由一相机拍摄光线照射一标准菲涅耳透镜的一标准圈纹成像;根据上述标准圈纹成像建立一补偿查找表,并取得一标准圈纹中心点;藉由上述相机拍摄光线照射一待测菲涅耳透镜的一圈纹成像;根据上述圈纹成像取得一圈纹中心点;取得上述圈纹中心点与上述标准圈纹中心点之间的一转换关系;以及根据上述补偿查找表及上述转换关系对上述圈纹成像执行一补偿程序,以消除上述圈纹成像中的一圈纹效应。
技术领域
本公开一般涉及消除圈纹效应(Ring Effect)的方法及装置,且更加具体地涉及一种消除由菲涅耳透镜(Fresnel Lens)所造成圈纹效应的方法及装置。
背景技术
现今的虚拟实境(Virtual Reality,VR)头戴式显示装置(Head-MountedDisplay,HMD)几乎都是采用菲涅耳透镜作为成像的光学系统。主要原因是因为菲涅耳透镜可大幅降低非球面镜(Aspherical lens)的厚度。然而,菲涅耳透镜成像时易造成圈纹效应。图1为由菲涅耳透镜所造成圈纹效应的示意图。
污点(Blemish)缺陷通常是由于划痕、污点或异物(例如,尘粒)所造成,并且可能位于菲涅耳透镜的光学成像路径的光学表面上。污点检测(Blemish detection)的原理为由工业相机拍摄一虚拟实境图像后进行轮廓检测(Contour Detection),以判断污点位置。然而,此圈纹效应会造成在进行轮廓检测时误认此圈纹为一轮廓,而造成污点检测上的错误。
因此,需要一种消除圈纹效应的方法及装置,以改善上述问题。
发明内容
以下公开的内容仅为示例性的,且不意指以任何方式加以限制。除所述说明方面、实施方式和特征之外,通过参照附图和下述具体实施方式,其他方面、实施方式和特征也将显而易见。即,以下公开的内容被提供以介绍概念、重点、益处及本文所描述新颖且非显而易见的技术优势。所选择,非所有的,实施例将进一步详细描述如下。因此,以下公开的内容并不意旨在所要求保护主题的必要特征,也不意旨在决定所要求保护主题的范围中使用。
因此,本公开的主要目的即在于提供一种消除圈纹效应的方法及装置,以改善上述缺点。
本公开提出一种消除圈纹效应(Ring Effect)的方法,包括:藉由一相机拍摄光线照射一标准菲涅耳透镜(Golden Device)的一标准圈纹成像;根据上述标准圈纹成像建立一补偿查找表(Lookup Table),并取得一标准圈纹中心点;藉由上述相机拍摄光线照射一待测菲涅耳透镜的一圈纹成像;根据上述圈纹成像取得一圈纹中心点;取得上述圈纹中心点与上述标准圈纹中心点之间的一转换关系;以及根据上述补偿查找表及上述转换关系对上述圈纹成像执行一补偿程序,以消除上述圈纹成像中的一圈纹效应。
本公开提出一种消除圈纹效应(Ring Effect)的装置,包括:一或多个处理器;以及一或多个计算机储存介质,储存计算机可读取指令,其中上述处理器使用上述计算机储存介质以执行:藉由一相机拍摄光线照射一标准菲涅耳透镜(Golden Device)的一标准圈纹成像;根据上述标准圈纹成像建立一补偿查找表(Lookup Table),并取得一标准圈纹中心点;藉由上述相机拍摄光线照射一待测菲涅耳透镜的一圈纹成像;根据上述圈纹成像取得一圈纹中心点;取得上述圈纹中心点与上述标准圈纹中心点之间的一转换关系;以及根据上述补偿查找表及上述转换关系对上述圈纹成像执行一补偿程序,以消除上述圈纹成像中的一圈纹效应。
附图说明
图1为由菲涅耳透镜所造成圈纹效应的示意图。
图2显示根据本公开一实施例所述的消除由透镜(Lens)所造成圈纹效应(RingEffect)的环境示意图。
图3显示根据本公开一实施例所述的消除圈纹效应的方法的流程图。
图4A显示根据本公开一实施例所述的标准圈纹成像的示意图。
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