[发明专利]数据校验方法及电路

权利要求书

1.一种数据校验方法，包括：

读取数据块和所述数据块的校验码；

根据数据块中每个比特在所述数据块中的地址，将所述数据块的每个比特依次映射到n维空间，且每一维度的数据长度k相同，n和k是正整数；所述数据块的校验码包括分别与每一维度中每一数据对应的校验码；

根据所述n维空间的数据块中数据与所述校验码确定n维空间的n*k个校验值；其中，所述校验值为n维空间的数据块中所有A(x*2,(x+1)*2-1)的数据和所述校验码的异或值；所述A(x*2,(x+1)*2-1)表示地址A的第x*2位到第(x+1)*2-1位组成的新地址，所述A为将数据块内行偏移地址和行内比特地址拼接得到的地址；

根据所述n*k个校验值判断所述数据块中是否存在错误比特；

当存在错误比特时，输出所述错误比特在所述数据块中的地址。

2.如权利要求1所述的方法，所述根据所述n*k个校验值判断所述数据块中是否存在错误比特，包括：

若所述n*k个校验值均为第一设定值，则所述数据块中没有错误比特；以及

若所述n*k个校验值中存在n个校验值为第二设定值，则所述数据块中存在1个错误比特。

3.如权利要求2所述的方法，其中，所述数据块包括多个行，每行包括多个比特，所述数据块中的每个比特的地址为块内行偏移地址和行内比特地址的拼接，若所述n*k个校验值中存在n个校验值p′_x，y为第二设定值，其中x＝n-1,…1,0,＝y()，则输出所述1个错误比特的地址为：{(n-1)₂，(n-2)₂，…y(0)₂},{}表示按照二进制拼接运算。

4.一种数据校验电路，包括：

读取电路，被配置为读取数据块和所述数据块的校验码；

校验电路，被配置为根据数据块中每个比特在所述数据块中的地址，将所述数据块的每个比特依次映射到n维空间，且每一维度的数据长度k相同，n和k是正整数；所述数据块的校验码包括分别与每一维度中每一数据对应的校验码；

校验电路，还被配置为根据所述n维空间的数据块中数据与所述校验码确定n维空间的n*k个校验值；其中，所述校验值为n维空间的数据块中所有A(x*2,(x+1)*2-1)的数据和所述校验码的异或值；所述A(x*2,(x+1)*2-1)表示地址A的第x*2位到第(x+1)*2-1位组成的新地址，所述A为将数据块内行偏移地址和行内比特地址拼接得到的地址；根据所述n*k个校验值判断所述数据块中是否存在错误比特；以及

地址输出电路，被配置为当存在错误比特时，输出所述错误比特在所述数据块中的地址。

5.如权利要求4所述的电路，所述校验电路被配置为具体还用于：

若所述n*k个校验值均为第一设定值，则所述数据块中没有错误；以及

若所述n*k个校验值中存在n个校验值为第二设定值，则所述数据块中存在1个错误。

6.如权利要求5所述的电路，其中，所述数据块包括多个行，每行包括多个比特，所述数据块中的每个比特的地址为块内行偏移地址和行内比特地址的拼接，若所述n*k个校验值中存在n个校验值p′_x,y为第二设定值，其中x＝n-1,…1,0，y＝y(x)，则所述地址输出电路还被配置为输出所述1个错误比特的地址为：{(n-1)₂,(n-2)₂,…y(0)₂}，{}表示按照二进制拼接运算。

7.一种用于产生数据块校验码的方法，包括：

根据数据块中每个比特在所述数据块中的位置，将所述数据块的每个比特依次映射到n维空间，且每一维度的数据长度k相同，n和k是正整数；以及

针对每个比特在n维空间的坐标对应的数据，计算在所述n维空间的每一维度中每一数据对应的校验码，得到所述数据块的n*k个校验码。