[发明专利]连接检测系统

权利要求书

1.一种连接检测系统，其特征在于，所述连接检测系统包括：

第一电子设备，所述第一电子设备包括第一控制芯片以及与所述第一控制芯片连接的第一正极触点、第一通信触点以及第一负极触点，所述第一通信触点与所述第一负极触点之间连接有第一电阻，所述第一负极触点与地之间连接有第二电阻；

第二电子设备，所述第二电子设备包括第二控制芯片以及与所述第二控制芯片连接的第二正极触点、第二通信触点以及第二负极触点，所述第二通信触点与电源之间连接有第三电阻，所述第二负极触点接地；

其中，所述第一正极触点与第二正极触点对应导通或者断开，所述第一通信触点与第二通信触点对应导通或者断开，所述第一负极触点与所述第二负极触点对应导通或者断开，所述第一控制芯片检测所述第一负极触点的电平状态以判断所述第一电子设备是否与所述第二电子设备连接，和/或，所述第二控制芯片检测所述第二通信触点的电平状态以检测所述第二电子设备是否与所述第一电子设备连接。

2.如权利要求1所述的连接检测系统，其特征在于，所述第一正极触点与第二正极触点对应导通，所述第一负极触点与所述第二负极触点对应导通时，所述第一正极触点、第二正极触点、第二控制芯片、第二负极触点、第一负极触点、第二电阻与地之间形成第一分压回路，所述第一控制芯片检测所述第一负极触点为高电平状态，以判断所述第一电子设备与所述第二电子设备连接。

3.如权利要求2所述的连接检测系统，其特征在于，所述第一通信触点与第二通信触点对应导通，所述第一负极触点与所述第二负极触点对应导通时，所述电源、第二通信触点、第一通信触点、第一电阻、第一负极触点、二负极触点与地之间形成有第二分压回路，所述第二控制芯片检测所述第二通信触点为低电平状态，以判断所述第二电子设备与所述第一电子设备连接。

4.如权利要求3所述的连接检测系统，其特征在于，所述第一电子设备还包括：

充电控制电路，所述充电控制电路连接至所述第一控制芯片与所述第一负极触点，所述充电控制电路用于在所述第一控制芯片的控制下拉低所述第一负极触点的电平。

5.如权利要求4所述的连接检测系统，其特征在于，所述充电控制电路包括场效应晶体管；

所述场效应晶体管的栅极连接到所述第一控制芯片；

所述场效应晶体管的源极连接到所述第一负极触点；

所述场效应晶体管的漏极接地。

6.如权利要求5所述的连接检测系统，其特征在于，

所述第一控制芯片与所述第一负极触点之间设置有第一连接点；

所述充电控制电路包括采样电阻，所述采样电阻一端连接到所述第一连接点，所述采样电阻另一端连接到所述场效应晶体管的源极。

7.如权利要求6所述的连接检测系统，其特征在于，

所述第一控制芯片与所述第一连接点之间设置有第二连接点；

所述充电控制电路包括滤波电容，所述滤波电容一端连接到所述第二连接点，所述滤波电容另一端接地。

8.如权利要求1所述的连接检测系统，其特征在于，所述连接检测系统第三电子设备，所述第三电子设备包括第三控制芯片以及与所述第三控制芯片连接的第三正极触点、第三通信触点以及第三负极触点，所述第三通信触点与电源之间连接有第四电阻，所述第三负极触点接地；

其中，所述第一正极触点与第三正极触点对应导通或者断开，所述第一通信触点与第三通信触点对应导通或者断开，所述第一负极触点与所述第三负极触点对应导通或者断开，所述第一控制芯片检测所述第一负极触点的电平状态以判断所述第一电子设备是否与所述第三电子设备连接，和/或，所述第三控制芯片检测所述第三通信触点的电平状态，以检测所述第三电子设备是否与所述第一电子设备连接。