[发明专利]连接检测系统

说明书

本发明公开一种连接检测系统，所述连接检测系统包括：第一电子设备，所述第一电子设备包括第一控制芯片以及与所述第一控制芯片连接的第一正极触点、第一通信触点以及第一负极触点；第二电子设备，所述第二电子设备包括第二控制芯片以及与所述第二控制芯片连接的第二正极触点、第二通信触点以及第二负极触点；其中，所述第一控制芯片检测所述第一负极触点的电平状态以判断所述第一电子设备是否与所述第二电子设备连接，和/或，所述第二控制芯片检测所述第二通信触点的电平状态以检测所述第二电子设备是否与所述第一电子设备连接。本发明的第一电子设备与第二电子设备能够同时检测与对方的连接，检测时间短，且功耗低。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，特别涉及到一种连接检测系统。

背景技术

现有技术中，存在以下场景：两个电子设备的连接过程中，任一电子设备都需要单向检测自身与另一电子设备是否连接成功，才会进行下一步操作。例如，无线耳机放入充电盒充电的过程中，无线耳机需要单向检测自身是否与充电盒连接成功，充电盒也需要单向检测自身是否与无线耳机连接成功，只有两者都确认自身与对方连接成功后，充电盒才会对无线耳机进行充电。这种检测过程是单向的，需要花费较长的检测时间，且都需要软件辅助，导致电子设备功耗增大。

发明内容

本发明的主要目的是提出一种连接检测系统，旨在解决现有技术中的电子设备连接过程中，需要花费较长的检测时间，且电子设备功耗增大的问题。

为实现上述目的，本发明提出的一种连接检测系统，所述连接检测系统包括：第一电子设备，所述第一电子设备包括第一控制芯片以及与所述第一控制芯片连接的第一正极触点、第一通信触点以及第一负极触点，所述第一通信触点与所述第一负极触点之间连接有第一电阻，所述第一负极触点与地之间连接有第二电阻；第二电子设备，所述第二电子设备包括第二控制芯片以及与所述第二控制芯片连接的第二正极触点、第二通信触点以及第二负极触点，所述第二通信触点与电源之间连接有第三电阻，所述第二负极触点接地；其中，所述第一正极触点与第二正极触点对应导通或者断开，所述第一通信触点与第二通信触点对应导通或者断开，所述第一负极触点与所述第二负极触点对应导通或者断开，所述第一控制芯片检测所述第一负极触点的电平状态以判断所述第一电子设备是否与所述第二电子设备连接，和/或，所述第二控制芯片检测所述第二通信触点的电平状态以检测所述第二电子设备是否与所述第一电子设备连接。

进一步地，所述第一正极触点与第二正极触点对应导通，所述第一负极触点与所述第二负极触点对应导通时，所述第一正极触点、第二正极触点、第二控制芯片、第二负极触点、第一负极触点、第二电阻与地之间形成第一分压回路，所述第一控制芯片检测所述第一负极触点为高电平状态，以判断所述第一电子设备与所述第二电子设备连接。

进一步地，所述第一通信触点与第二通信触点对应导通，所述第一负极触点与所述第二负极触点对应导通时，所述电源、第二通信触点、第一通信触点、第一电阻、第一负极触点、二负极触点与地之间形成有第二分压回路，所述第二控制芯片检测所述第二通信触点为低电平状态，以判断所述第二电子设备与所述第一电子设备连接。

进一步地，所述第一电子设备还包括：充电控制电路，所述充电控制电路连接至所述第一控制芯片与所述第一负极触点，所述充电控制电路用于在所述第一控制芯片的控制下拉低所述第一负极触点的电平。

进一步地，所述充电控制电路包括场效应晶体管；所述场效应晶体管的栅极连接到所述第一控制芯片；所述场效应晶体管的源极连接到所述第一负极触点；所述场效应晶体管的漏极接地。

进一步地，所述第一控制芯片与所述第一负极触点之间设置有第一连接点；所述充电控制电路包括采样电阻，所述采样电阻一端连接到所述第一连接点，所述采样电阻另一端连接到所述场效应晶体管的源极。

进一步地，所述第一控制芯片与所述第一连接点之间设置有第二连接点；所述充电控制电路包括滤波电容，所述滤波电容一端连接到所述第二连接点，所述滤波电容另一端接地。