[发明专利]用于校准坐标测量仪的标准器

权利要求书

1.一种用于校准坐标测量仪的标准器，其中该标准器(10)具有基体(12)，该基体具有永久性校准结构(14)，其中该校准结构(14)具有第一组件(15)，其中该第一组件(15)以如下方式设计，使得该第一组件(15)向平面的投影(20)的相交于共同点(16)的三条轴线(18)分别穿过相同设计的第一区段(22)，其中这些第一区段(22)在一侧分别由该共同点(16)限定，其中这些相同设计的第一区段(22)分别具有n个区(24)，其中直接相邻的区(24)的不同之处在于光学特征，其特征在于，n大于或等于3，以及其中该校准结构(14)具有第二组件(57)，其中在该第二组件(57)中，直线(54)的第一直线区段(53)与同一直线(54)的第二直线区段(55)是长度相等的，其中该第一直线区段(53)由第一分段(56)的边缘点界定，并且该第二直线区段(55)由第二分段(58)的边缘点界定，其中该第一分段(56)的光学特征与该第二分段(58)的光学特征不同，其中该校准结构(14)具有条形标记(70)，其中这些条形标记(70)具有相互间不同的角度(72)。

2.根据权利要求1所述的标准器，其中n大于或等于七。

3.根据权利要求2所述的标准器，其中n大于或等于十一。

4.根据权利要求2所述的标准器，其中n大于或等于十三。

5.根据权利要求1至4之一所述的标准器，其中该第一组件(15)以如下方式设计，使得该第一组件(15)向平面的投影(20)的相交于共同点(16)的多于三条轴线(18)穿过相同设计的第一区段(22)。

6.根据权利要求1至4之一所述的标准器，其中该校准结构(14)具有第一区域(26)和第二区域(28)，其中该第一区域(26)具有第一光学特征(30)，其中该第二区域(28)具有第二光学特征(32)，其中该第一光学特征(30)不同于该第二光学特征(32)，其中该第一区域的最外部的边缘线(34)限定第一几何形状(36)，其中该第二区域的最外部的边缘线(38)限定第二几何形状(40)，其中该第一几何形状(36)与该第二几何形状(40)是同心的。

7.根据权利要求6所述的标准器，其中该第一几何形状(36)和该第二几何形状(40)选自包括以下项的形状组中的一个或多个：圆(50)、三角形(52)和矩形(64)。

8.根据权利要求1至4之一所述的标准器，其中该基体(12)是透明的。

9.根据权利要求1至4之一所述的标准器，其中该校准结构(14)具有选自包括以下项的结构组中的一个或多个结构：圆(50)、同心圆(50)、圆形区段(60)、点(62)、三角形(52)、三角形环(63)、矩形(64)、具有恒定间隔的平行的矩形(66)、栅格结构、点栅格和周期性的结构。

10.根据权利要求1至4之一所述的标准器，其中该基体(12)大体上由包括以下项的材料组中的材料制成：玻璃、石英玻璃和

11.根据权利要求1至4之一所述的标准器，其中该光学特征包括包括以下项的光学特征组中的一个或多个：反射率、吸收率、透射率和折射指数。

12.根据权利要求1至4之一所述的标准器，其中该校准结构(14)具有高反射性的铬结构(68)。

13.根据权利要求1至4之一所述的标准器，其中该校准结构(14)具有至少70°的边沿陡度。

14.根据权利要求1至4之一所述的标准器，其中该校准结构(14)具有至少80°的边沿陡度。

15.根据权利要求1至4之一所述的标准器，其中该校准结构(14)具有至少85°的边沿陡度。