[发明专利]一种线性测量系统

权利要求书

1.一种线性测量系统，其特征在于，包括辐射源(1)、第一抛物面反射镜(3)、可调光阑(4)、分束镜(5)、第一滤光片轮组(6)、第一平面反射镜(7)、第二平面反射镜(8)、第二滤光片轮组(9)、合束镜(10)、第三滤光片轮组(11)、第二抛物面反射镜(12)和导光棒(14)；所述辐射源(1)的谱段包括250nm-2500nm，分束镜(5)与透射信号光呈75°，合束镜(10)与经其合束得到的信号光呈75°；所述第一滤光片轮组(6)、第二滤光片轮组(9)和第三滤光片轮组(11)均采用中性衰减滤光片、谱段均包括250nm-2500nm；

辐射源(1)出射的信号光依次经第一抛物面反射镜(3)准直、经可调光阑(4)限束后入射到分束镜(5)上分成透射信号光和反射信号光，透射信号光经第一滤光片轮组(6)滤光和第一平面反射镜(7)反射后入射到合束镜(10)上，反射信号光经第二滤光片轮组(9)滤光和第二平面反射镜(8)反射后入射到合束镜(10)上，合束镜(10)将入射到其上光的合为一束平行信号光，合束后的信号光依次经第三滤光片轮组(11)滤光、经第二抛物面反射镜(12)聚焦于导光棒(14)的前表面、经导光棒(14)传导与匀化后出射。

2.如权利要求1所述的一种线性测量系统，其特征在于，所述系统还包括第一消杂光光阑(2)和第二消杂光光阑(13)，所述第一消杂光光阑(2)位于辐射源(1)和第一抛物面反射镜(3)之间，所述第二消杂光光阑(13)位于第二抛物面反射镜(12)和导光棒(14)之间。

3.如权利要求1所述的一种线性测量系统，其特征在于，所述辐射源(1)包括卤钨灯、LED灯和氙灯。

4.如权利要求1所述的一种线性测量系统，其特征在于，所述分束镜(5)和合束镜(10)的分光比均为1:1。

5.如权利要求1所述的一种线性测量系统，其特征在于，所述第一平面反射镜(7)和第二平面反射镜(8)平行设置。

6.如权利要求1所述的一种线性测量系统，其特征在于，所述第一滤光片轮组(6)的各个滤光片之间的透过率不同，第二滤光片轮组(9)的各个滤光片之间的透过率不同，第三滤光片轮组(11)的各个滤光片之间的透过率不同。