[发明专利]一种线性测量系统

说明书

一种线性测量系统涉及光电探测系统探测性能测量技术领域，解决了像面照度低、光谱范围小和动态范围小的问题，一种线性测量系统，辐射源出射的信号光依次经第一抛物面反射镜、可调光阑后经分束镜分成透射信号光和反射信号光，透射信号光经第一滤光片轮组和第一平面反射镜后入射到合束镜上，反射信号光经第二滤光片轮组和第二平面反射镜后入射到合束镜上，合束镜合束后的信号光依次经第三滤光片轮组、经第二抛物面反射镜和导光棒出射，其中辐射源为谱段包括250‑2500nm，分束镜与合束镜均与透射光束呈25°；本发明光谱范围大、提高了像面照度、动态范围达到10⁹、适用范围广。

技术领域

本发明涉及光电探测系统探测性能测量技术领域，具体涉及一种线性测量系统。

背景技术

绝大多数光电探测器的输入-输出关系只能在一定范围内保持线性，在其他范围，尤其是输入信号较大或较小时，探测器的响应会呈现非线性，不能够准确表征出被探测目标的辐射特性。因此对光电探测器的线性度进行测量和评价，并对探测器的非线性进行校正，使其在更大范围内能保持线性输出是很有必要的。目前常用的线性测量方法都基于通量叠加法、衰减法和动态法。

随着研究的深入，由于通量叠加法相比于衰减法，具有不依赖于辅助量限制的优点，相比于动态法，具有设置方法和分析方法都相对简便的优点。因此通量叠加法逐渐成为了线性测量的主流。目前比较成熟的利用通量叠加法的线性测量仪器分为两种，一种采用单光源作为辐射源，通过双光阑法或分束双快门法进行测量；一种采用双光源作为辐射源，通过积分球法或时序法进行测量。但是双光阑法或分束双快门法需要通过调节电源注入电流来调节通量大小，而在改变光源注入电流的过程中，波长会发生漂移，影响测量精度。且光源的辐亮度调节范围有限，导致测量动态范围不大。而积分球法或时序法均采用双光源，而两个型号一样的光源，依旧可能存在光谱差异。

现有技术的主要缺点如下：

1、像面照度低，因此只能针对探测器作线性检测，而无法针对整个待测仪器；

2、使用光谱范围小，无法实现从紫外-可见-近红外谱段的测量；

3、动态范围小；

4、适用范围小，现有技术的线性测量系统仅适用于某种或某一信号响应区间的光电探测器，无法通过一个线性测量仪器实现对不同光电探测器的非线性测量。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供一种线性测量系统。

本发明为解决技术问题所采用的技术方案如下：

一种线性测量系统，包括辐射源、第一抛物面反射镜、可调光阑、分束镜、第一滤光片轮组、第一平面反射镜、第二平面反射镜、第二滤光片轮组、合束镜、第三滤光片轮组、第二抛物面反射镜和导光棒；所述辐射源的谱段包括250nm-2500nm，分束镜与透射信号光呈75°，合束镜与经其合束得到的信号光呈75°；

辐射源出射的信号光依次经第一抛物面反射镜准直、经可调光阑限束后入射到分束镜上分成透射信号光和反射信号光，透射信号光经第一滤光片轮组滤光和第一平面反射镜反射后入射到合束镜上，反射信号光经第二滤光片轮组滤光和第二平面反射镜反射后入射到合束镜上，合束镜将入射到其上光的合为一束平行信号光，合束后的信号光依次经第三滤光片轮组滤光、经第二抛物面反射镜聚焦于导光棒的前表面、经导光棒传导与匀化后出射。

本发明的有益效果是：

1、发明通过第一抛物面反射镜、第二抛物面反射镜聚焦以及可采用大功率稳定辐射源，提高像面照度。

2、本发明的光谱范围大，通过谱段包括250-2500nm的辐射源、第一滤光片轮组、第二滤光片轮组、第三滤光片轮组、分束镜和合束镜，在较宽谱段内实现对不同波长的光透过率保持不变。