[发明专利]半导体开关器件的恒温运行测试系统及方法

权利要求书

1.一种半导体开关器件的恒温运行测试系统，其特征在于，所述半导体开关器件的恒温运行测试系统至少包括：

闭环反馈模块，包括半导体开关器件，基于所述半导体开关器件实现闭环调节；

热电偶，贴设于所述半导体开关器件的背面，用于检测所述半导体开关器件的运行温度；

调节模块，连接所述热电偶，接收所述热电偶的检测信号及参考信号，并输出差值；

控制模块，连接所述调节模块及所述闭环反馈模块，基于所述差值产生控制信号，以调整所述半导体开关器件的开关占空比，使得所述半导体开关器件的运行温度保持在设定温度。

2.根据权利要求1所述的半导体开关器件的恒温运行测试系统，其特征在于：所述闭环反馈包括开关电源电路。

3.根据权利要求2所述的半导体开关器件的恒温运行测试系统，其特征在于：所述开关电源电路包括BUCK电路，BOOST电路或BUCK-BOOST电路。

4.根据权利要求2所述的半导体开关器件的恒温运行测试系统，其特征在于：所述开关电源电路包括直流电源，所述半导体开关器件，电感，二极管，负载及驱动单元；

所述半导体开关器件的一端连接所述直流电源，另一端连接所述电感的第一端；所述电感的第二端经由所述负载接地；

所述二极管的阴极连接所述电感的第一端，阳极接地；

所述驱动单元连接所述半导体开关器件的控制端，控制所述半导体开关器件的导通和关断。

5.根据权利要求1所述的半导体开关器件的恒温运行测试系统，其特征在于：所述调节模块包括比例积分调节电路。

6.根据权利要求1～5任意一项所述的半导体开关器件的恒温运行测试系统，其特征在于：所述半导体开关器件为氮化镓器件。

7.一种半导体开关器件的恒温运行测试方法，其特征在于，所述半导体开关器件的恒温运行测试方法至少包括：

运行如权利要求1～6任意一项所述的半导体开关器件的恒温运行测试系统，实时监测所述半导体开关器件的运行温度，将监测到的运行温度与设定温度进行比较，得到差值；

基于所述差值调节所述半导体开关器件的开关占空比，使所述半导体开关器件的运行温度稳定在设定温度。

8.根据权利要求7所述的半导体开关器件的恒温运行测试方法，其特征在于：所述半导体开关器件的运行温度在所述设定温度的±1％范围内。

9.根据权利要求7所述的半导体开关器件的恒温运行测试方法，其特征在于：所述半导体开关器件的恒温运行测试方法还包括，在所述半导体开关器件的运行温度稳定在设定温度时，检测所述半导体开关器件的运行状态，以判断所述半导体开关器件的在设定温度下的可靠性。

10.根据权利要求9所述的半导体开关器件的恒温运行测试方法，其特征在于：检测所述半导体开关器件的运行状态的方法包括：检测流经所述半导体开关器件的电流或所述半导体开关器件两端的电压。