[发明专利]一种闪存主控芯片及其控制方法、测试方法及存储设备

权利要求书

1.一种闪存主控芯片控制方法，其特征在于，包括：

确定物理层的工作状态，所述工作状态包括忙碌状态和空闲状态；

根据所述物理层的工作状态，选通输入通道，所述输入通道包括所述物理层可向I/O接口配置第一操作时序的第一数据通道，以及，与所述物理层连接的控制器可向I/O接口配置第二操作时序的第二数据通道，所述I/O接口用于连接闪存介质，任一操作时序皆用于控制所述闪存介质。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述物理层的工作状态，选通输入通道包括：

若所述物理层的工作状态为忙碌状态，选通所述第一数据通道；

若所述物理层的工作状态为空闲状态，选通所述第一数据通道或所述第二数据通道。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：

当选通所述第二数据通道时，为所述I/O接口配置所述第二操作时序，以使所述闪存介质根据所述第二操作时序执行工作特性设置操作；

当检测到所述闪存介质完成工作特性设置操作时，选通第一数据通道，使得所述物理层可向I/O接口配置所述第一操作时序。

4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，还包括：

控制所述物理层通过所述第一数据通道为所述I/O接口配置第一操作时序或第二操作时序，所述第二操作时序所需的工作时钟频率小于所述第一操作时序所需的工作时钟频率。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，控制所述物理层通过所述第一数据通道为所述I/O接口配置第一操作时序或第二操作时序包括：

确定所述物理层的当前工作时钟频率；

若所述当前工作时钟频率大于预设频率切换阈值，控制所述物理层切换当前工作时钟频率至目标工作时钟频率，所述目标工作时钟频率小于或等于所述预设频率切换阈值；

当检测到所述物理层的目标工作时钟频率持续稳定，控制所述物理层完成初始化操作；

当所述物理层完成初始化操作，发送闪存操作命令至所述物理层，以使所述物理层根据所述闪存操作命令通过所述第一数据通道为所述I/O接口配置第二操作时序；

当检测到所述物理层配置完所述第二操作时序，控制所述物理层切换至正常工作时钟频率；

当检测到所述物理层的正常工作时钟频率持续稳定，控制所述物理层完成初始化操作；

控制所述物理层通过所述第一数据通道为所述I/O接口配置第一操作时序。

6.一种闪存主控芯片，其特征在于，包括：

I/O接口；

多路复用器，配置有第一数据通道及第二数据通道；

物理层，用于当所述多路复用器选通所述第一数据通道时，向所述I/O接口发送第一操作时序；以及

控制器，用于根据所述物理层的工作状态，发送选通指令至所述多路复用器，以使所述多路复用器选通所述选通指令指向的输入通道，当选通所述第一数据通道，所述物理层可向所述I/O接口配置所述第一操作时序，当选通所述第二数据通道时，所述控制器可向所述I/O接口配置第二操作时序，所述工作状态包括忙碌状态和空闲状态。

7.根据权利要求6所述的芯片，其特征在于，所述物理层通过所述多路复用器的所述第一数据通道连接所述I/O接口，所述控制器通过所述多路复用器的所述第二数据通道连接所述I/O接口。

8.一种闪存主控芯片测试方法，其特征在于，所述闪存主控芯片是权利要求6或7所述的闪存主控芯片，包括：

驱动所述闪存主控芯片的控制器产生测试时序信号；

获取I/O接口响应所述测试时序信号而输出的接口测试信号；

根据所述测试时序信号与所述接口测试信号，生成测试结果；

若所述测试时序信号与所述接口测试信号不一致，则生成用于指示所述I/O接口出错的测试结果；

若所述测试时序信号与所述接口测试信号一致，则生成用于指示所述I/O接口正确且物理层出错的测试结果。