[发明专利]一种提高矢量图形深度利用效率的大容量存储器测试方法在审
| 申请号： | 201911384967.3 | 申请日： | 2019-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN111161786A | 公开（公告）日： | 2020-05-15 |
| 发明（设计）人： | 洪斌;顾秋华;张文德 | 申请（专利权）人： | 上海仪电智能电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 | 代理人： | 刘常宝 |
| 地址： | 201206 上海市浦东新区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 提高 矢量 图形 深度 利用 效率 容量 存储器 测试 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种提高矢量图形深度利用效率的大容量存储器测试方法，其特征在于，包括：
对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的擦写延时，重复读数据通过指令控制器实施单行压缩；
对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的规律读写数据通过指令控制器实施区块调用。
2.根据权利要求1所述的大容量存储器测试方法，其特征在于，所述将存储器的擦写延时，重复读数据通过指令控制器实施单行压缩时，将操作指令连续没有变化的行通过矢量图形控制器的控制指令在矢量图形文件中将重复行压缩到一行，以释放矢量图形被占用的深度。
3.根据权利要求1所述的大容量存储器测试方法，其特征在于，所述将存储器的规律读写数据通过指令控制器实施区块调用时，通过矢量图形控制器的控制指令可以反复调用矢量图形文件中规定位置的一段，以释放矢量图形被占用的深度。
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