[发明专利]一种提高矢量图形深度利用效率的大容量存储器测试方法

说明书

本发明公开了一种提高矢量图形深度利用效率的大容量存储器测试方法，其包括：对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的擦写延时，重复读数据通过指令控制器实施单行压缩；对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的规律读写数据通过指令控制器实施区块调用。本发明提供的方案通过矢量图形的指令控制器的有效控制使图形深度得到有效扩展，能够在没有ALPG功能矢量图形深度不够的情况下完成对大容量存储器测试。

技术领域

本发明涉及FLASH芯片的测试技术，具体涉及大容量FLASH芯片的测试技术。

背景技术

FLASH芯片由于其存储可靠、成本低等优点得到大量的应用，为保证芯片能长期可靠的工作，FLASH存储芯片必须进行全面的测试。

如，DQ25Q128AL是一款高速大容量Flash芯片，总容量为128Mbit，在前期测试评估中认为必须使用存储器专用测试机进行测试开发。

由于存储器内每一个存储单元的改变都有可能影响存储器内部其它单元的变化，这种相关性的擦写、读取产生了巨大的测试工作量，因此，容量越大的FLASH芯片不仅测试时间长还对测试的资源有着更高的要求，普遍采用主流品牌存储器专用测试机利用ALPG(Algorithmic Pattern Generator)算法图形生成器功能来实现相关擦写、读取测试。但现有的主流大容量存储器测试机，存在成本较高且兼容性较差的问题，现有的存储器专用测试机通常只定位于存储器测试，不能覆盖其它领域的产品测试，比如模拟产品的测试，整体可扩展性较差。若采用主流通用型测试机，其成本就更高。

对此，中国国产的测试机还很少有切入存储器专用测试领域，比如御渡NST1625L测试机是一款中国国产混合信号测试机，有着较低的成本和较强的扩展兼容性，其矢量图形深度128M，但在配置上缺少ALPG(Algorithmic PatternGenerator)算法图形生成器功能。

发明内容

针对现有大容量存储器测试方案存在成本高且扩展兼容性差的问题，需要一种低成本且具有高兼容性的大容量存储器测试方案。

为此，本发明的目的在于提供一种提高矢量图形深度利用效率的大容量存储器测试方法，其能够在没有ALPG功能矢量图形深度不够的情况下完成对大容量存储器测试，同时具有较高的可扩展性。

为了达到上述目的，本发明提供的提高矢量图形深度利用效率的大容量存储器测试方法，包括：

对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的擦写延时，重复读数据通过指令控制器实施单行压缩；

对FLASH存储器的矢量图形进行分析，将存储器的规律读写数据通过指令控制器实施区块调用。

进一步地，所述将存储器的擦写延时，重复读数据通过指令控制器实施单行压缩时，将操作指令连续没有变化的行通过矢量图形控制器的控制指令在矢量图形文件中将重复行压缩到一行，以释放矢量图形被占用的深度。

进一步地，所述将存储器的规律读写数据通过指令控制器实施区块调用时，通过矢量图形控制器的控制指令可以反复调用矢量图形文件中规定位置的一段，以释放矢量图形被占用的深度。

本发明提供的方案通过矢量图形的指令控制器的有效控制使图形深度得到有效扩展，能够在没有ALPG功能矢量图形深度不够的情况下完成对大容量存储器测试。

再者，本发明提供的方案相对于现有采用昂贵具备ALPG功能的测试机的测试方案，测试成本大大降低；同时测试时间并不增加。

附图说明

以下结合附图和具体实施方式来进一步说明本发明。

图1为本实例中存储器测试的输入信号和操作指令示例图；

图2为本实例中输入间隔的规律性控制指令信号的示例图。