[发明专利]一种绝缘栅双极型晶体管的静态测试装置

权利要求书

1.一种绝缘栅双极型晶体管的静态测试装置，其特征在于，包括：

压环单元(1)，其包括压环工位(11)和压环机构(12)，所述压环单元(1)的周圈设置有第一通道、第二通道和第三通道，所述第一通道连接有膜壳输送机构(2)，所述第二通道连接有圆环输送机构(3)，膜壳在所述膜壳输送机构(2)的驱动下进入所述压环工位(11)，圆环在所述圆环输送机构(3)的驱动下进入所述压环工位(11)，所述圆环在所述压环机构(12)的作用下压紧于所述膜壳内，所述圆环和所述膜壳共同构成绝缘栅双极型晶体管本体(4)；

移送单元(5)，其入料口(51)连接于所述第三通道，所述移送单元(5)上设置有电性测试工位(52)、CCD测试工位(53)和高压测试工位(54)，且所述电性测试工位(52)、所述CCD测试工位(53)和所述高压测试工位(54)的一侧皆设置有一个降料机构(6)，所述移送单元(5)的出料口(56)一侧设置有装料盘(55)且所述装料盘(55)位于高压测试机构(7)内。

2.根据权利要求1所述的一种绝缘栅双极型晶体管的静态测试装置，其特征在于，所述压环机构(12)包括第一安装架(121)、压环气缸(122)、定位气缸(123)和定位板(124)，所述压环气缸(122)安装于所述第一安装架(121)的顶部，所述定位气缸(123)安装于所述第一安装架(121)的底部，所述定位板(124)固定安装于所述第一安装架(121)内且位于所述压环气缸(122)和所述定位气缸(123)之间。

3.根据权利要求2所述的一种绝缘栅双极型晶体管的静态测试装置，其特征在于，所述压环气缸(122)的底部安装有朝向所述绝缘栅双极型晶体管本体(4)延伸的取环杆(125)，所述定位气缸(123)的位置对应所述取环杆(125)的位置。

4.根据权利要求1-3所述的一种绝缘栅双极型晶体管的静态测试装置，其特征在于，所述膜壳输送机构(2)包括膜壳入料盘(21)、出料口(22)、推板(23)和推杆(24)，所述膜壳入料盘(21)内矩阵排列有多个膜壳，所述推板(23)位于所述膜壳入料盘(21)的长度方向一端，所述推杆(24)和所述出料口(22)位于所述膜壳入料盘(21)的长度方向另一端，所述推板(23)在第一气缸(231)的推动下顶紧于所述膜壳上并带动所述膜壳沿着所述膜壳入料盘(21)的长度方向移动，所述推杆(24)在第二气缸(241)的驱动下将所述膜壳推向所述出料口(22)。

5.根据权利要求4所述的一种绝缘栅双极型晶体管的静态测试装置，其特征在于，所述圆环输送机构(3)为送料振动盘。

6.根据权利要求1所述的一种绝缘栅双极型晶体管的静态测试装置，其特征在于，所述降料机构(6)包括第二安装架(61)、第三气缸(62)、导轨(63)和机械手(64)，所述导轨(63)安装于所述第二安装架(61)上，所述第三气缸(62)安装于所述导轨(63)上，所述机械手(64)安装于所述第三气缸(62)上，且所述机械手(64)在所述第三气缸(62)的驱动下抓取所述绝缘栅双极型晶体管本体(4)并沿着所述导轨(63)的长度方向移动。

7.根据权利要求6所述的一种绝缘栅双极型晶体管的静态测试装置，其特征在于，所述降料机构(6)一侧设置有降料盒(65)，所述绝缘栅双极型晶体管本体(4)在所述机械手(64)的带动下落入所述降料盒(65)内。

8.根据权利要求1所述的一种绝缘栅双极型晶体管的静态测试装置，其特征在于，所述高压测试机构(7)包括第三安装架(71)、紧固板(72)、测试电极(73)、第四气缸(74)和第五气缸(75)，所述装料盘(55)固定安装于所述第三安装架(71)的底部，所述紧固板(72)在所述第四气缸(74)的驱动下压实所述装料盘(55)内的多个所述绝缘栅双极型晶体管本体(4)，所述第五气缸(75)安装于所述第三安装架(71)的顶部，所述测试电极(73)在所述第五气缸(75)的驱动下朝向或远离所述装料盘(55)。