[发明专利]基于UG的电极与零件干涉检测方法、计算机装置及计算机可读存储介质

权利要求书

1.基于UG的电极与零件干涉检测方法，其特征在于，包括：

获取零件的坐标系；

获取所述零件的第一加工面，根据所述第一加工面生成相切表面并创建电极；

获取所述电极在所述坐标系中的位置，并生成所述电极的坐标；

显示参数编辑框，获取输入至所述参数编辑框的所述零件的监控编号、所述电极的夹具型号及所述电极的加工类型并生成加工参数，根据所述加工参数对所述电极和所述零件进行布尔运算，若运算结果为所述电极与所述零件相交，则发出第一提示信息。

2.根据权利要求1所述的基于UG的电极与零件干涉检测方法，其特征在于：

在所述生成加工参数的步骤之后、所述进行布尔运算的步骤之前，所述方法还包括：

获取第一修改指令，并根据所述第一修改指令修改所述加工参数。

3.根据权利要求1所述的基于UG的电极与零件干涉检测方法，其特征在于：

所述参数编辑框还包括匹配标记；

在所述生成加工参数的步骤之后，所述方法还包括：

判断所述电极与预设刀库是否匹配，若否，则发出第二提示信息；

获取第二修改指令，并根据所述第二修改指令修改所述匹配标记。

4.根据权利要求1所述的基于UG的电极与零件干涉检测方法，其特征在于：

在所述根据所述第一加工面生成相切表面并创建电极的步骤之后，所述方法还包括：

获取第三修改指令，并根据所述第三修改指令对所述电极的轮廓进行修正。

5.根据权利要求4所述的基于UG的电极与零件干涉检测方法，其特征在于：

在所述创建电极的步骤之后，所述方法还包括：

根据所述电极的尺寸创建所述电极的基准座，并在显示所述参数编辑框时在所述参数编辑框上显示所述基准座的长度、高度和宽度。

6.根据权利要求1所述的基于UG的电极与零件干涉检测方法，其特征在于：

所述获取零件的坐标系的步骤包括：

通过所述零件上的特征建立所述坐标系；或

通过所述零件上可选的基准面建立所述坐标系。

7.根据权利要求1至6任一项所述的基于UG的电极与零件干涉检测方法，其特征在于：

若所述运算结果为所述电极与所述零件相切，则结束对所述电极的创建；

在所述结束对所述电极的创建的步骤之后，所述方法还包括：

获取所述零件上的与所述第一加工面结构相同的第二加工面，并将已创建出的所述电极复制至所述第二加工面处。

8.根据权利要求7所述的基于UG的电极与零件干涉检测方法，其特征在于：

在所述结束对所述电极的创建的步骤之后，所述方法还包括：

获取图纸导出指令，根据所述图纸导出指令导出对应格式的工程图；

获取清单导出指令，根据所述清单导出指令导出电极的放电参数清单；

获取共用打单指令，显示选择编辑框，获取输入值所述选择编辑框的电极监控编号及所述选择编辑框上的待选电极，

获取所述选择编辑框上的共用指令，并根据所述共用指令修改所述电极监控边控所对应的电极和所获取的所述待选电极之间的共用关系，

获取所述选择编辑框上的打单指令，导出所述电极监控编号所对应的电极的设计文件或导出所获取的所述待选电极的设计文件；

获取缓存清理指令，根据所述缓存清理指令清除相应的文件。

9.计算机装置，包括处理器以及存储器，其特征在于：所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至8中任意一项所述的基于UG的电极与零件干涉检测方法的步骤。

10.计算机可读介质，其上存储有计算机程序，其特征在于：所述计算机程序被控制器执行时实现如权利要求1至8中任意一项所述的基于UG的电极与零件干涉检测方法的步骤。