[发明专利]链路层芯片接收数据包的测试方法、系统及电子设备在审
| 申请号： | 201911415749.1 | 申请日： | 2019-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN111211868A | 公开（公告）日： | 2020-05-29 |
| 发明（设计）人： | 袁邦;杨莉蓉;任欢;杨超;夏杰;宋杰 | 申请（专利权）人： | 西安翔腾微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | H04L1/00 | 分类号： | H04L1/00 |
| 代理公司： | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人： | 王海栋 |
| 地址： | 710065 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 链路层 芯片 接收 数据包 测试 方法 系统 电子设备 | ||
1.一种链路层芯片接收数据包的测试方法，其特征在于，包括：
根据数据前缀得到第一数据包，所述第一数据包包括若干第一子数据；
根据所述第一数据包的第一个所述第一子数据得到待测试数据包；
根据预设CRC和所述待测试数据包的CRC对所述待测试数据包进行测试。
2.根据权利要求1所述的链路层芯片接收数据包的测试方法，其特征在于，根据所述第一数据包的第一个所述子数据得到待测试数据包，包括：
将所述第一子数据转换为预设位数的第二子数据得到第二数据包；
根据所述第二数据包的第一个所述第二子数据得到待测试数据包。
3.根据权利要求2所述的链路层芯片接收数据包的测试方法，其特征在于，根据所述第二数据包的第一个所述第二子数据得到待测试数据包，包括：
根据所述第二数据包的第一个所述第二子数据的第N位数据得到tcode字段；
根据所述tcode字段得到所述待测试数据包。
4.根据权利要求3所述的链路层芯片接收数据包的测试方法，其特征在于，所述预设位数为32位。
5.根据权利要求3所述的链路层芯片接收数据包的测试方法，其特征在于，所述tcode字段为tcode-A。
6.根据权利要求1所述的链路层芯片接收数据包的测试方法，其特征在于，根据预设CRC和所述待测试数据包的CRC对所述待测试数据包进行测试，包括：
获取所述预设CRC；
获取所述待测试数据包的头CRC；
根据所述预设CRC和所述头CRC对所述待测试数据包进行测试。
7.根据权利要求6所述的链路层芯片接收数据包的测试方法，其特征在于，根据所述预设CRC和所述头CRC对所述待测试数据包进行测试，包括：
将所述预设CRC和所述头CRC进行比较，若所述预设CRC和所述头CRC一致，则测试结果为成功，若所述预设CRC和所述头CRC不一致，则测试结果为失败。
8.一种链路层芯片接收数据包的测试系统，用于链路层芯片的MC接口和/或DM接口接收数据包的测试，其特征在于，包括：
接收模块，用于根据数据前缀得到第一数据包，所述第一数据包包括若干第一子数据；
转换模块，用于根据所述第一数据包的第一个所述第一子数据得到待测试数据包；
测试模块，用于根据预设CRC和所述待测试数据包的CRC对所述待测试数据包进行测试。
9.一种电子设备，其特征在于，包括处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器，通信接口，存储器通过通信总线完成相互间的通信；
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时，实现权利要求1-8任一所述的方法步骤。
10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质内存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-7任一所述的方法步骤。
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