[发明专利]链路层芯片接收数据包的测试方法、系统及电子设备

说明书

本发明公开了一种链路层芯片接收数据包的测试方法、系统及电子设备，该测试方法包括：根据数据前缀得到第一数据包，所述第一数据包包括若干第一子数据；根据所述第一数据包的第一个所述第一子数据得到待测试数据包；根据预设CRC和所述待测试数据包的CRC对所述待测试数据包进行测试。本发明所提供的链路层芯片接收数据包的测试方法能够对链路层芯片所接收的数据包的正确性进行测试，从而能够确保链路层芯片所接收的数据包的正确性，本实施例的测试过程简便、可行性高，能够实现自动、高效的测试。

技术领域

本发明属于数据测试技术领域，具体涉及一种链路层芯片接收数据包的测试方法、系统及电子设备。

背景技术

1394总线协议是按照SAE AS5643标准(全称《SAE AS5643：用于军事和飞行器应用的1394b接口需求》)对1394b协议局部进行了限定，以满足航空领域对高可靠、低延迟、确定性要求。

1394总线接口实现主要包括协议层芯片、链路层(Link)芯片、物理层(PHY，Physical)芯片。其中，链路层芯片实现了1394总线节点的链路层功能，主要负责在事物层和物理层之间传递数据，LLC(Logical Link Control，逻辑链路控制)芯片还提供了标准的Alpha(阿尔法)类型的PHY-Link接口，用于连接物理层芯片。为了确保链路层芯片能够正确接收数据包，因此会对链路层芯片进行测试。

但是，目前对链路层芯片的测试过程复杂、繁琐，没有实现高效测试。

发明内容

为了解决现有技术中存在的上述问题，本发明提供了一种链路层芯片接收数据包的测试方法、系统及电子设备。本发明要解决的技术问题通过以下技术方案实现：

一种链路层芯片接收数据包的测试方法，用于链路层芯片的MC接口和/或DM接口接收数据包的测试，包括：

根据数据前缀得到第一数据包，所述第一数据包包括若干第一子数据；

根据所述第一数据包的第一个所述第一子数据得到待测试数据包；

根据预设CRC和所述待测试数据包的CRC对所述待测试数据包进行测试。

在本发明的一个实施例中，根据所述第一数据包的第一个所述子数据得到待测试数据包，包括：

将所述第一子数据转换为预设位数的第二子数据得到第二数据包；

根据所述第二数据包的第一个所述预设位数的第二子数据得到待测试数据包。

在本发明的一个实施例中，根据所述第二数据包的第一个所述预设位数的第二子数据得到待测试数据包，包括：

根据所述第二数据包的第一个所述预设位数的第二子数据得到第三子数据；

根据所述第三子数据的第N位得到tcode字段；

根据所述tcode字段得到所述待测试数据包。

在本发明的一个实施例中，所述预设位数为32位。

在本发明的一个实施例中，所述tcode字段为tcode-A。

在本发明的一个实施例中，根据预设CRC和所述待测试数据包的CRC对所述待测试数据包进行测试，包括：

获取所述预设CRC；

获取所述待测试数据包的头CRC；

根据所述预设CRC和所述头CRC对所述待测试数据包进行测试。

在本发明的一个实施例中，根据所述预设CRC和所述头CRC对所述待测试数据包进行测试，包括：