[发明专利]坏点检测及校正装置有效
申请号: | 201911418162.6 | 申请日: | 2019-12-31 |
公开(公告)号: | CN110891172B | 公开(公告)日: | 2021-07-16 |
发明(设计)人: | 朱煜枫;田景军;詹进;朱媛媛;潘昱 | 申请(专利权)人: | 上海富瀚微电子股份有限公司 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00;H04N5/367 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 曹廷廷 |
地址: | 201103 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 校正 装置 | ||
1.一种坏点检测及校正装置,其特征在于,包括:数据输入单元、增益补偿单元、坏点检测强度单元、六个坏点检测单元、坏点检测融合单元和校正单元;所述数据输入单元用于输入图像;所述增益补偿单元用于多个通道的增益补偿;所述坏点检测强度单元用于输送逻辑值为0或者1的控制参数;六个所述坏点检测单元分别接收所述控制参数并且分别检测增益补偿后的图像数据是否有坏点;所述坏点检测融合单元将六个所述坏点检测单元的检测结果进行融合并输出坏点信息;所述校正单元对所述坏点信息进行校正;所述坏点检测融合单元包括坏点信息融合模块和智能化坏点判断模块,所述坏点信息融合模块用于将六个所述坏点检测单元输出的判断结果进行融合,输出十进制的坏点融合信息;所述智能化坏点判断模块由神经网络组成,输入所述坏点融合信息,输出训练好的坏点判断信息。
2.如权利要求1所述的坏点检测及校正装置,其特征在于,所述输入图像为GRBG模式、GBRG模式、BGGR模式或RGGB模式;以当前像素点为中心,选择一5x5数据窗,5x5数据窗命名为D0、D1、D2、D3、D4;D5、D6、D7、D8、D9;D10、D11、D12、D13、D14;D15、D16、D17、D18、D19;D20、D21、D22、D23、D24。
3.如权利要求2所述的坏点检测及校正装置,其特征在于,所述坏点检测单元包括:第一坏点检测单元、第二坏点检测单元、第三坏点检测单元、第四坏点检测单元、第五坏点检测单元和第六坏点检测单元。
4.如权利要求3所述的坏点检测及校正装置,其特征在于,所述第一坏点检测单元包括:第一邻域像素排序模块和第一阈值判断模块;所述第一邻域像素排序模块对5x5数据窗中和当前像素点相同的通道的邻域像素进行排序;所述第一阈值判断模块根据控制参数在排序后的像素中选择最大值的像素和最小值的像素,并且结合预设的参数计算第一上限阈值和第一下限阈值,最后,通过判断当前像素点是否大于第一上限阈值或者小于第一下限阈值来判断当前像素点在第一坏点检测单元中是否满足坏点的条件,并且输出判断结果。
5.如权利要求4所述的坏点检测及校正装置,其特征在于,所述第二坏点检测单元包括:邻域像素插值模块、第二邻域像素排序模块和第二阈值判断模块;所述邻域像素插值模块用于获取以当前像素点为中心的3x3数据窗,查找3x3数据窗中与当前像素点非相同通道的像素点,再查找出每个非相同通道像素点的与当前像素点相同通道的相邻像素点,取相邻像素点的平均值作为非相同通道的像素点的插值,以多个插值、3x3数据窗中与当前像素点相同通道的像素点和当前像素点组成一个新的3x3数据窗;所述第二邻域像素排序模块对所述新的3x3数据窗内的像素进行排序;所述第二阈值判断模块根据控制参数在排序后的像素中选择最大值的像素和最小值的像素,并且结合预设的参数计算第二上限阈值和第二下限阈值,最后,通过判断当前像素点是否大于第二上限阈值或者小于第二下限阈值来判断当前像素点在第二坏点检测单元中是否满足坏点的条件,并且输出判断结果。
6.如权利要求5所述的坏点检测及校正装置,其特征在于,所述第三坏点检测单元包括:第一水平梯度计算模块、第一垂直梯度计算模块、第一45度梯度计算模块、第一135度梯度计算模块、第一梯度排序模块和第三阈值判断模块;所述第一水平梯度计算模块根据当前像素点所处通道计算当前像素点的水平方向绝对梯度;所述第一垂直梯度计算模块用于根据当前像素点所处通道计算当前像素点垂直方向绝对梯度;所述第一45度梯度计算模块用于根据当前像素点所处通道计算当前像素点45度方向绝对梯度;所述第一135度梯度计算模块用于根据当前像素点所处通道计算当前像素点135度方向绝对梯度;所述第一梯度排序模块用于对所述水平方向绝对梯度、所述垂直方向绝对梯度、所述45度方向绝对梯度和所述135度方向绝对梯度进行排序,按照从大到小排列,得到最小绝对梯度;所述第三阈值判断模块通过判断最小绝对梯度值是否大于预设值来判断当前像素点在所述第三坏点检测单元中是否满足坏点的条件,并且输出判断结果。
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