[发明专利]坏点检测及校正装置

说明书

本发明提供了一种坏点检测及校正装置，包括：数据输入单元、增益补偿单元、坏点检测强度单元、多个坏点检测单元、坏点检测融合单元和校正单元；所述数据输入单元用于输入图像信息；所述增益补偿单元用于多个通道的增益补偿；所述坏点检测强度单元用于输送逻辑值为0或者1的控制参数；所述坏点检测单元接收所述控制参数并且检测增益补偿后的图像数据是否有坏点；所述坏点检测融合单元将多个所述坏点检测单元的检测结果进行融合并输出坏点信息；所述校正单元对所述坏点信息进行校正。在本发明提供的坏点检测及校正装置中，图像中的静态坏点和动态坏点在单一坏点和双坏点簇两种情形下的坏点检测和校正功能。

技术邻域

本发明涉及图像处理技术邻域，尤其是涉及一种坏点检测及校正装置。

背景技术

在图像信号处理中，由于图像采集设备的制造工艺以及原材料的差异，会导致传感器中存在一些坏点。这些坏点主要分为两种类型：一种是像素点保持固定亮度或暗度的静态坏点；一种是像素点在时间上变化的方差比周围的像素大的动态坏点。在经过插值、滤波等过程后，坏点会在RGB/YUV图像上扩大，对后续图像处理造成干扰。因此，提前对坏点进行检测和校正至关重要。

现有技术在检测图像传感器中的坏点时，通常在图像传感器生产过程当中，通过离线方式统计存在的坏点位置，并设置坏点对应的校正方法，在坏点检测过程中直接读取和进行坏点校正。然而，这种方法并没有考虑到图像传感器的坏点位置和强度会随着温度和时间的变化而变化，且无法针对动态坏点进行实时的坏点检测和校正。

发明内容

本发明的目的在于提供一种坏点检测及校正装置，可以判断单一坏点和双坏点簇两种情形下的坏点检测和校正功能；并且根据坏点所处区域的场景信息配置对应的坏点校正强度，实时高效地进行坏点校正。

为了达到上述目的，本发明提供了一种坏点检测及校正装置，包括：数据输入单元、增益补偿单元、坏点检测强度单元、多个坏点检测单元、坏点检测融合单元和校正单元；所述数据输入单元用于输入图像信息；所述增益补偿单元用于多个通道的增益补偿；所述坏点检测强度单元用于输送逻辑值为0或者1的控制参数；所述坏点检测单元接收所述控制参数并且检测增益补偿后的图像数据是否有坏点；所述坏点检测融合单元将多个所述坏点检测单元的检测结果进行融合并输出坏点信息；所述校正单元对所述坏点信息进行校正。

可选的，在所述的坏点检测及校正装置，所述输入的图像为GRBG模式、GBRG模式、BGGR模式或RGGB模式；以当前像素点为中心，选择一5x5数据窗，5x5数据窗命名为D0、D1、D2、D3、D4；D5、D6、D7、D8、D9；D10、D11、D12、D13、D14；D15、D16、D17、D18、D19；D20、D21、D22、D23、D24。

可选的，在所述的坏点检测及校正装置，所述坏点检测单元包括：第一坏点检测单元、第二坏点检测单元、第三坏点检测单元、第四坏点检测单元、第五坏点检测单元和第六坏点检测单元。

可选的，在所述的坏点检测及校正装置，所述第一坏点检测单元包括：第一邻域像素排序模块和第一阈值判断模块；所述第一邻域像素排序模块对5x5数据窗中和当前像素点相同的通道的邻域像素进行排序；所述第一阈值判断模块根据控制参数在排序后的像素中选择最大值的像素和最小值的像素，并且结合预设的参数计算第一上限阈值和第一下限阈值，最后，通过判断当前像素点是否大于第一上限阈值或者小于第一下限阈值来判断当前像素点在第一坏点检测单元中是否满足坏点的条件，并且输出判断结果。