[发明专利]破膜现象的处理方法、装置、设备及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种破膜现象的处理方法，其特征在于，所述破膜现象的处理方法应用于破膜现象的处理设备，所述破膜现象的处理设备包括厚度测试显微镜、真空发生器和控制器，所述破膜现象的处理方法包括：

获取测试数据集，所述测试数据集包括测试厚度数据及对应的测试真空气压数据；

根据所述测试厚度数据和所述测试真空气压数据，设定涂覆厚度与真空气压之间的映射关系；

通过所述厚度测试显微镜获取待测试基材表面的纳米胶的涂覆厚度；

根据所述涂覆厚度、预先设定的涂覆厚度与真空气压之间的映射关系，确定目标真空气压值；

根据所述目标真空气压值控制所述真空发生器，以调整所述破膜现象的处理设备内的气压值至所述目标真空气压值。

2.如权利要求1所述的破膜现象的处理方法，其特征在于，所述破膜现象的处理设备还包括报警器，所述根据所述涂覆厚度、预先设定的涂覆厚度与真空气压之间的映射关系，确定目标真空气压值的步骤之前，还包括：

判断所述涂覆厚度是否大于预设阈值；

若所述涂覆厚度大于预设阈值，则控制所述报警器按第一预设方式进行报警；

若所述涂覆厚度小于或等于预设阈值，则执行步骤：根据所述涂覆厚度、预先设定的涂覆厚度与真空气压之间的映射关系，确定目标真空气压值。

3.如权利要求2所述的破膜现象的处理方法，其特征在于，所述破膜现象的处理设备还包括真空检测模块，所述破膜现象的处理方法还包括：

自控制所述真空发生器时开始计时，在达到第一预设时间时，通过所述真空检测模块检测当前真空气压值；

判断所述当前真空气压值是否等于所述目标真空气压值；

若所述当前真空气压值不等于所述目标真空气压值，则控制所述报警器按第二预设方式进行报警。

4.如权利要求1所述的破膜现象的处理方法，其特征在于，所述破膜现象的处理方法还包括：

自控制所述真空发生器时开始计时，在达到第二预设时间时，关闭所述真空发生器。

5.一种破膜现象的处理设备，其特征在于，所述破膜现象的处理设备包括厚度测试显微镜、真空发生器和控制器，所述厚度测试显微镜和所述真空发生器分别与所述控制器电连接，所述控制器用于：

获取测试数据集，所述测试数据集包括测试厚度数据及对应的测试真空气压数据；

根据所述测试厚度数据和所述测试真空气压数据，设定涂覆厚度与真空气压之间的映射关系；

通过所述厚度测试显微镜获取待测试基材表面的纳米胶的涂覆厚度；

根据所述涂覆厚度、预先设定的涂覆厚度与真空气压之间的映射关系，确定目标真空气压值；

根据所述目标真空气压值控制所述真空发生器，以调整所述破膜现象的处理设备内的气压值至所述目标真空气压值。

6.如权利要求5所述的破膜现象的处理设备，其特征在于，所述破膜现象的处理设备还包括报警器，所述报警器与所述控制器电连接，所述控制器还用于：

判断所述涂覆厚度是否大于预设阈值；

若所述涂覆厚度大于预设阈值，则控制所述报警器按第一预设方式进行报警；

若所述涂覆厚度小于或等于预设阈值，则根据所述涂覆厚度、预先设定的涂覆厚度与真空气压之间的映射关系，确定目标真空气压值。

7.如权利要求6所述的破膜现象的处理设备，其特征在于，所述破膜现象的处理设备还包括真空检测模块，所述真空检测模块与所述控制器电连接，所述控制器还用于：

自控制所述真空发生器时开始计时，在达到第一预设时间时，通过所述真空检测模块检测当前真空气压值；

判断所述当前真空气压值是否等于所述目标真空气压值；

若所述当前真空气压值不等于所述目标真空气压值，则控制所述报警器按第二预设方式进行报警。

8.一种破膜现象的处理装置，其特征在于，所述破膜现象的处理装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至4中任一项所述的破膜现象的处理方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4中任一项所述的破膜现象的处理方法的步骤。