[实用新型]一种带限位结构的芯片测试装置

权利要求书

1.一种带限位结构的芯片测试装置，包括底座（1）、显示屏（2）和测试座（3），其特征在于，所述底座（1）一侧安装有显示屏（2），所述底座（1）上安装有控制面板（8），所述底座（1）上安装有测试座（3），所述测试座（3）上开设有安装槽（4），所述安装槽（4）中安装有限位装置、所述测试座（3）与底座（1）之间安装有减震装置。

2.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述限位装置包括双向螺纹杆（5）、安装块（9）和直角限位杆（13），所述安装槽（4）活动安装有双向螺纹杆（5），且双向螺纹杆（5）一端贯穿测试座（3），所述安装槽（4）中对称活动安装有安装块（9），两个所述安装块（9）远离底座（1）的一侧均安装有直角限位杆（13），两个所述直角限位杆（13）相对面对称开设有直角卡槽。

3.根据权利要求2所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述安装槽（4）两端对称安装有两个轴承（7），所述双向螺纹杆（5）安装在两个轴承（7）的内环上，所述双向螺纹杆（5）同时贯穿两个安装块（9），两个所述安装块（9）上对称开设有螺纹孔，所述双向螺纹杆（5）上设有两段相反方向的螺纹，且螺纹孔与双向螺纹杆（5）两段螺纹分别螺纹啮合。

4.根据权利要求2所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述安装槽（4）两侧壁上靠近安装块（9）处均对称开设有两个滑槽（12），两个所述安装块（9）上均对称安装有两个连接杆（10），每个所述连接杆（10）远离安装块（9）的一端均安装有滑块（11），所述滑块（11）与滑槽（12）相互配合。

5.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述减震装置包括弹杆（14）和弹簧（15），所述测试座（3）与底座（1）之间安装有多个弹杆（14），每个所述弹杆（14）上均套设有弹簧（15）。

6.根据权利要求2所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述双向螺纹杆（5）远离测试座（3）的一端固定安装有旋钮（6）。