[实用新型]一种带限位结构的芯片测试装置

说明书

本实用新型公开了一种带限位结构的芯片测试装置,包括底座、显示屏和测试座，所述底座一侧安装有显示屏，所述底座上安装有控制面板，所述底座上安装有测试座，所述测试座上开设有安装槽，所述安装槽中安装有限位装置、所述测试座与底座之间安装有减震装置。本实用新型在测试座上开设了安装槽，在安装槽中安装了限位装置，通过两个直角限位杆将芯片固定在测试座上，使其在测试时不发生偏位，提高了测试的质量，其次在测试座和底座之间安装了减震装置，减少了测试时发生的震动对芯片的损坏，保证了测试后芯片的质量。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，尤其涉及一种带限位结构的芯片测试装置。

背景技术

芯片是在电子学中是一种把电路（主要包括半导体设备，也包括被动组件等）小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，芯片在出厂之前都需要进行性能测试，符合规格要求的芯片才可以进行包装出厂。

现有的芯片测试装置上缺少限位装置，或者限制效果差导致先测试过程中出现误差，进而造成误判等现象，不仅增加了测试成本，更导致了测试的质量下降，使得事倍功半，其次测试装置中缺少减震装置，测试时会发生震动作用，会对芯片内部造成损伤。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中缺少限位装置和减震装置的问题，而提出的一种带限位结构的芯片测试装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种带限位结构的芯片测试装置，包括底座、显示屏和测试座，所述底座一侧安装有显示屏，所述底座上安装有控制面板，所述底座上安装有测试座，所述测试座上开设有安装槽，所述安装槽中安装有限位装置、所述测试座与底座之间安装有减震装置。

优选地，所述限位装置包括双向螺纹杆、安装块和直角限位杆，所述安装槽活动安装有双向螺纹杆，且双向螺纹杆一端贯穿测试座，所述安装槽中对称活动安装有安装块，两个所述安装块远离底座的一侧均安装有直角限位杆，两个所述直角限位杆相对面对称开设有直角卡槽。

优选地，所述安装槽两端对称安装有两个轴承，所述双向螺纹杆安装在两个轴承的内环上，所述双向螺纹杆同时贯穿两个安装块，两个所述安装块上对称开设有螺纹孔，所述双向螺纹杆上设有两段相反方向的螺纹，且螺纹孔与双向螺纹杆两段螺纹分别螺纹啮合。

优选地，所述安装槽两侧壁上靠近安装块处均对称开设有两个滑槽，两个所述安装块上均对称安装有两个连接杆，每个所述连接杆远离安装块的一端均安装有滑块，所述滑块与滑槽相互配合。

优选地，所述减震装置包括弹杆和弹簧，所述测试座与底座之间安装有多个弹杆，每个所述弹杆上均套设有弹簧。

优选地，所述双向螺纹杆远离测试座的一端固定安装有旋钮。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：

1、本实用新型在测试座上开设有安装槽，安装槽中安装有限位装置，通过转动双向螺纹杆，使得两个安装块相互靠进，在通过两个安装块上的直角限位杆将芯片卡住，对芯片进行限位固定，增加了测试时的稳定性，减少了芯片的偏位情况，提高了测试真实性，更提高了测试的效率；

2、本实用新型在测试座与底座之间安装有弹杆，弹杆上套设有弹簧，减少了测试测试座的震动作用。提高了测试的稳定性，也减少了测试时的震动对芯片的损坏，保证了芯片的质量。

3、综上所述，本实用新型在测试座上开设了安装槽，在安装槽中安装了限位装置，通过两个直角限位杆将芯片固定在测试座上，使其在测试时不发生偏位，提高了测试的质量，其次在测试座和底座之间安装了减震装置，减少了测试时发生的震动对芯片的损坏，保证了测试后芯片的质量。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种带限位结构的芯片测试装置的正视图；