[实用新型]光探测器芯片性能高速测试平台

说明书

本实用新型涉及探测器技术领域，且公开了一种光探测器芯片性能高速测试平台。该光探测器芯片性能高速测试平台，包括底座、两个支撑架和支撑板，所述支撑板包括电动推杆、检测装置和固定装置，所述固定装置位于检测装置的左侧，所述底座包括滑槽、槽口、活动板和转动装置，所述底座的内部为中空结构，所述转动装置的底部与底座的内底部固定连接，所述活动板的外侧与滑槽的内侧活动连接，所述转动装置包括电机、转轮和两个转杆。该光探测器芯片性能高速测试平台，通过设置了电机、转轮、转杆、槽口、固定块、活动板和凹槽，该光探测器芯片性能高速测试平台解决了光电探测器在检测时效率低下的问题。

技术领域

本实用新型涉及探测器技术领域，具体为一种光探测器芯片性能高速测试平台。

背景技术

光电探测器的原理是由辐射引起被照射材料电导率发生改变，光电探测器在军事和国民经济的各个领域有广泛用途，芯片作为光电探测器的重要构成部分，在其生产好后需要对其进行检测，而对其进行检测的时候，每次都需要人工取拿芯片进行检测，这样的方式连续性较差，检测效率慢。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种光探测器芯片性能高速测试平台，具备连续性较好和检测效率快的优点，解决了光电探测器在检测时效率低下的问题。

(二)技术方案

为实现上述连续性较好和检测效率快目的，本实用新型提供如下技术方案：一种光探测器芯片性能高速测试平台，包括底座、两个支撑架和支撑板，所述支撑板包括电动推杆、检测装置和固定装置，所述固定装置位于检测装置的左侧，所述底座包括滑槽、槽口、活动板和转动装置，所述底座的内部为中空结构，所述转动装置的底部与底座的内底部固定连接，所述活动板的外侧与滑槽的内侧活动连接，所述转动装置包括电机、转轮和两个转杆，所述电机的底部与底座的内底部固定连接，所述电机的输出端与贯穿转轮且与转轮固定连接，两个所述转杆的相对一侧分别与转轮的左右两侧固定连接。

所述活动板包括七个凹槽、七个插口和七个固定块，所述凹槽开设于活动板的顶部，所述插口开设于活动板的顶部，所述固定块的顶部与活动板的底部固定连接，所述固定块位于凹槽的正下方。

优选的，所述底座的顶部与支撑架的底部固定连接，所述支撑架的顶部与支撑板的底部固定连接。

优选的，所述电动推杆的顶部与支撑板的底部固定连接，所述电动推杆位于两个支撑架之间。

优选的，所述检测装置检测探头和两个灯，所述检测探头的顶部与检测装置的底部固定连接，所述灯的顶部与检测装置的底部固定连接，所述检测探头位于两个灯之间。

优选的，所述固定装置包括固定板、固定柱和固定杆，所述固定板的右侧与检测装置的左侧固定连接，所述固定柱的背侧与固定板的正面固定连接，所述固定柱的外侧贯穿固定杆且与固定杆固定连接。

优选的，所述滑槽开设于底座的顶部，所述活动板的外侧与滑槽的内侧活动连接。

优选的，所述槽口开设于滑槽的底部且与底座相连通，所述固定块的底端穿插过槽口且延伸至底座的内部，所述固定块的外侧与槽口的内侧活动连接。

与现有技术相比，本实用新型提供了一种光探测器芯片性能高速测试平台，具备以下有益效果：

1、该光探测器芯片性能高速测试平台，通过设置了电机、转轮、转杆、槽口、固定块、活动板和凹槽，将待检测的芯片放置在凹槽的内部后，将活动板放置在滑槽的内部，使左侧的第一个待检测的芯片位于检测探头的正下方后，启动电动推杆使电动推杆向下运动，使检测探头与芯片接触后对芯片进行检测，检测好后，启动电机，使转杆带动检测好的芯片移动到左侧，下一个待检测的芯片移动到检测探头的正下方，通过该装置可以连续的对活动板上的芯片进行检测，大大提高了芯片的检测效率。