[实用新型]一种生产测试用的高速采样示波器及测试系统

权利要求书

1.一种生产测试用的高速采样示波器，用于对待测器件中的待测光信号和/或待测电信号进行测量并显示，其特征在于，包括设置在采样示波器(10)的面板上的光输入端口(101)、电输入端口(102)和时钟输入端口(103)，以及设置在所述采样示波器(10)内部的微处理器(1)、光电检测模块(2)、线性放大模块(3)、采样模块(4)、信号处理模块(5)和显示模块(6)，所述微处理器(1)分别与所述光电检测模块(2)、所述线性放大模块(3)、所述采样模块(4)、所述信号处理模块(5)和所述显示模块(6)电连接，所述光输入端口(101)通过光纤与所述光电检测模块(2)光路连接，所述光电检测模块(2)与所述线性放大模块(3)电连接，所述线性放大模块(3)分别与所述电输入端口(102)和所述采样模块(4)电连接，所述采样模块(4)分别与所述时钟输入端口(103)和所述信号处理模块(5)电连接。

2.根据权利要求1所述的生产测试用的高速采样示波器，其特征在于，所述光电检测模块(2)包括光电二极管(21)、互阻抗放大器(22)、第一可变增益放大器(23)和第一输出电路(24)；所述光电二极管(21)通过所述光纤与所述光输入端口(101)光路连接，所述光电二极管(21)的一端与所述互阻抗放大器(22)的输入端电连接，所述互阻抗放大器(22)的输出端与所述第一可变增益放大器(23)的输入端电连接，所述第一可变增益放大器(23)的输入端还与所述微处理器(1)电连接，所述第一可变增益放大器(23)的输出端与所述第一输出电路(24)的输入端电连接，所述第一输出电路(24)的输出端与所述线性放大模块(3)电连接。

3.根据权利要求2所述的生产测试用的高速采样示波器，其特征在于，所述线性放大模块(3)包括第二可变增益放大器(31)、反馈电路(32) 和第二输出电路(33)，所述第二可变增益放大器(31)的输入端分别与所述微处理器(1)、所述电输入端口(102)、所述第一输出电路(24)的输入端和所述反馈电路(32)的输出端电连接，所述第二可变增益放大器(31)的输出端分别与所述反馈电路(32)的输入端和所述第二输出电路(33)的输入端电连接，所述第二输出电路(33)的输出端与所述采样模块(4)电连接。

4.根据权利要求3所述的生产测试用的高速采样示波器，其特征在于，所述采样模块(4)包括采样信号发生电路(41)、采样电路(42)和第三输出电路(43)，采样信号发生电路(41)的输入端分别与所述微处理器(1)和所述时钟输入端口(103)电连接，采样信号发生电路(41)的输出端分别与所述信号处理模块(5)和所述采样电路(42)的输入端连接，所述采样电路(42)的输入端还与所述第二输出电路(33)的输出端电连接，所述采样电路(42)的输出端与第三输出电路(43)的输入端电连接，所述第三输出电路(43)的输出端与所述信号处理模块(5)电连接。

5.根据权利要求4所述的生产测试用的高速采样示波器，其特征在于，所述信号处理模块(5)包括模数转换电路(51)和逻辑运算控制电路(52)，所述模数转换电路(51)的输入端和所述逻辑运算控制电路(52)的输入端均分别与所述采样信号发生电路(41)的输出端电连接，所述模数转换电路(51)的输入端还与所述第三输出电路(43)的输出端电连接，所述模数转换电路(51)的输出端与所述逻辑运算控制电路(52)的输入端电连接，所述逻辑运算控制电路(52)的输出端与所述微处理器(1)电连接。

6.根据权利要求5所述的生产测试用的高速采样示波器，其特征在于，所述逻辑运算控制电路(52)具体采用Xilinx ZYNQ系列FPGA器件。

7.根据权利要求1所述的生产测试用的高速采样示波器，其特征在于，所述采样示波器(10)的面板上还设有多个与外部测试仪器通信连接的通信端口，且所述通信端口还与所述微处理器(1)电连接。

8.根据权利要求7所述的生产测试用的高速采样示波器，其特征在于，所述通信端口包括网口、串口和GPIB端口。