[实用新型]一种生产测试用的高速采样示波器及测试系统

说明书

本实用新型公开了一种生产测试用的高速采样示波器及测试系统，用于对待测器件中的待测光信号和/或待测电信号进行测量并显示，包括设置在采样示波器的面板上的光输入端口、电输入端口和时钟输入端口，以及设置在采样示波器内部的微处理器、光电检测模块、线性放大模块、采样模块、信号处理模块和显示模块，所述微处理器分别与所述光电检测模块、所述线性放大模块、所述采样模块、所述信号处理模块和所述显示模块电连接。本实用新型的采样示波器，可实现达到超高速的测试速率，可同时实现对光信号和电信号的相关参数的测试及眼图绘制，无需对高速通道中的光信号和电信号逐个测量通用性强，测试效率高，可降低整体成本。

技术领域

本实用新型涉及通信技术领域，特别涉及一种生产测试用的高速采样示波器及测试系统。

背景技术

随着信息技术的高速发展，通信领域的接口速率从早期的Kb/s发展到 Mb/s、Gb/s，再发展到当前的百Gb/s，因而高速光模块、高速DAC电缆和高速AOC光缆等都由于具有超高的通信速率而被大规模应用在通信领域的各个环节。

但是由于高速光模块、高速DAC电缆和高速AOC光缆等超高的单通道速率(0～32Gb/s)，现有的仪器仪表无法达到32Gb/s的测试速率，同时现有的仪器仪表端口数量有限，针对SFP28、QSFP+之类的光模块和AOC、 DAC线缆需要对于进行逐个测量才能完成整体测试，无法实现光信号和电信号同时测量，效率低下。除此之外，不同的高速光模块、高速DAC电缆和高速AOC光缆等在生产线上采用的不同的采样示波器之间的通用性非常差，导致生产线搭建完成以后，只能生产测试一种或者有限的几种高速光模块、高速DAC电缆、高速AOC光缆产品，资源的使用效率低，投入成本较高。

实用新型内容

本实用新型提供了一种生产测试用的高速采样示波器及测试系统，解决了现有技术中采样示波器无法达到超高速的测试速率(0～32Gb/s)、端口数量有限且通用性差的问题。

本实用新型解决上述技术问题的技术方案如下：

一种生产测试用的高速采样示波器，用于对待测器件中的待测光信号和 /或待测电信号进行测量并显示，包括设置在采样示波器的面板上的光输入端口、电输入端口和时钟输入端口，以及设置在所述采样示波器内部的微处理器、光电检测模块、线性放大模块、采样模块、信号处理模块和显示模块，所述微处理器分别与所述光电检测模块、所述线性放大模块、所述采样模块、所述信号处理模块和所述显示模块电连接，所述光输入端口通过光纤与所述光电检测模块光路连接，所述光电检测模块与所述线性放大模块电连接，所述线性放大模块分别与所述电输入端口和所述采样模块电连接，所述采样模块分别与所述时钟输入端口和所述信号处理模块电连接。

本实用新型的有益效果是：本实用新型通过微处理器实现对其他各模块的控制和管理，通过光电检测模块完成待测光信号的输入和光电转换，将待测光信号转换成电信号，得到转换电信号，通过线性放大模块直接接收待测电信号和/或经过光电转换后的转换电信号，并将待测电信号和/或转换电信号进行适当地放大，通过采样模块产生时钟信号并按照时钟信号对放大的待测电信号和/或转换电信号进行采样，通过信号处理模块对待测电信号和/或转换电信号进行处理，并通过微处理器和显示模块实现待测器件在生产测试中真实的眼图相关参数的准确测量和眼图绘制；其中，待测器件包括光模块、 DAC电缆和AOC光缆，通过上述各模块可实现达到超高速的测试速率 (0～32Gb/s)，通过光输入端口和电输入端口可同时实现对光信号和电信号的相关参数的测试及眼图绘制，无需对高速通道中的光信号和电信号逐个测量，通用性强，测试效率高，可降低整体成本，其中光输入端口和电输入端口的数量可根据需要设置，通过多个光输入端口和多个电输入端口，可以实现多路电信号和光信号同时测量。

在上述技术方案的基础上，本实用新型还可以做如下改进：