[实用新型]带有全塑USB插头的老化测试连接器

权利要求书

1.带有全塑USB插头的老化测试连接器，其特征在于，其包括基体和USB插头，所述基体内包括一电路板，所述电路板正面的一侧边的中间位置设有触点A1至A12，所述电路板背面的对应位置设有触点B1至B12；所述触点A1至A12及触点B1至B12用于焊接并电连接USB插头；所述电路板的中间设有两排可插入铜柱的对称的触点孔，所述触点孔贯穿电路板正面与背面并连通电路板正面与背面；两排触点孔下方还对称设有两个次触点孔，分别连接触点A8和触点B8，插入于两个次触点孔的铜柱外露于所述连接器之外，所述触点A8和触点B8用于侦测或写入产品ID；所述USB插头包括一体注塑成型的塑胶外壳、端子组以及实心胶芯，所述外壳包括插头壳和后壳，所述外壳内设有一方形阶梯槽以及扁平通孔，所述阶梯槽与通孔连通，所述阶梯槽设在后壳中并且阶梯槽开口设在后壳的后端，所述通孔贯穿插头壳；所述端子组由两组相互平行的金属端子组成，每组金属端子有若干个相互平行扁平的金属端子，所述金属端子的后段用于焊接于电路板上；所述胶芯前部插入到所述通孔中，胶芯后部置于阶梯槽中；所述金属端子分为三段：长条形的前段、板状的中段和条形的后段，前段与中段连接的后半部分被夹在胶芯前部与所述通孔之间，前段的前半部分上设有触点。

2.如权利要求1所述的带有全塑USB插头的老化测试连接器，其特征在于，所述通孔的上下内壁均设有第一凹槽，所述金属端子的前段插入到第一凹槽中。

3.如权利要求1所述的带有全塑USB插头的老化测试连接器，其特征在于，所述阶梯槽与胶芯对应的部分设有第二凹槽，所述金属端子的中段插入到第二凹槽中。

4.如权利要求1所述的带有全塑USB插头的老化测试连接器，其特征在于，所述胶芯插入通孔的部分为板状，胶芯置于阶梯槽的部分设有凸台，凸台上设有若干第三凹槽，所述金属端子的中段分别插入到第二凹槽和第三凹槽中。

5.如权利要求1所述的带有全塑USB插头的老化测试连接器，其特征在于，所述金属端子的前段设有触点的相对另一边为斜边。

6.如权利要求1所述的带有全塑USB插头的老化测试连接器，其特征在于，所述电路板设置触点A1至A12的侧边位置设有沿着触点A1至A12排布方向延伸的凸台，凸台延伸长度大于触点A1至A12的距离，凸台的凸起方向垂直于电路板的侧边。

7.如权利要求6所述的带有全塑USB插头的老化测试连接器，其特征在于，所述凸台与电路板的侧边连接处的内角设为圆角。

8.如权利要求1所述的带有全塑USB插头的老化测试连接器，其特征在于，所述基体还包括盖板和底板，所述电路板夹在盖板与底板之间，电路板正面朝向于盖板，电路板背面朝向于底板，所述电路板上插接的铜柱均贯穿盖板并外露于盖板之外。

9.如权利要求8所述的带有全塑USB插头的老化测试连接器，其特征在于，所述盖板上对应触点A1至A12的位置上设有让位槽；所述底板上对应触点B1至B12的位置上同样设有让位槽。

10.如权利要求8所述的带有全塑USB插头的老化测试连接器，其特征在于，两个次触点孔之间的位置穿入一个主螺钉和一个等高铜套，所述主螺钉穿入等高铜套中，所述等高铜套贯穿盖板、电路板和底板，所述主螺钉末端外露于底板之外。