[实用新型]带有全塑USB插头的老化测试连接器

说明书

本实用新型涉及一种带有全塑USB插头的老化测试连接器。连接器包括基体和USB插头，基体内包括一电路板，电路板正面的一侧边的中间位置设有触点A1至A12，电路板设有两个次触点孔，分别连接触点A8和触点B8，插入于两个次触点孔的铜柱外露于连接器之外，触点A8和触点B8用于侦测或写入产品ID。USB插头包括一体注塑成型的塑胶外壳、端子组以及实心胶芯，外壳包括插头壳和后壳，外壳内设有一方形阶梯槽以及扁平通孔，阶梯槽与通孔连通，阶梯槽设在后壳中并且阶梯槽开口设在后壳的后端，通孔贯穿插头壳。测试器具备读取/写入产品ID的功能，满足了用户测试需求，增强了产品使用功能。USB插头整体成型的外壳加上实心的胶芯，结构得到简化，同时强度得到提高。

技术领域

本实用新型涉及老化测试设备，尤其涉及一种带有全塑USB插头的老化测试连接器。

背景技术

测试器常见于对电子设备，如手机、平板电脑等，进行性能测试时的场景。老化测试连接器是常见的一种类型。老化测试连接器用于对电子设备的老化程度进行测试，从而得出电子设备抗老化能力以及老化之后设备运行性能。通常的老化测试连接器不带有读取/写入产品ID的功能，未能满足用户要求，有待改进。另外，连接器中还带有USB插头。USB插头中的金属端子是用于传输数据或者电能的关键部件。在对电子智能设备进行性能测试时，需要对USB插头进行多次连续反复插拔。现有的USB插头通常需要插入一个中空芯套内，然后再将芯套装入插头中。结构相对复杂，并且夹持力较低，有待改进。

实用新型内容

本实用新型的目的在于为克服现有技术的以上缺陷，而提供一种带有全塑USB插头的老化测试连接器。

为实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：带有全塑USB插头的老化测试连接器，其包括基体和USB插头，基体内包括一电路板，电路板正面的一侧边的中间位置设有触点A1至A12，电路板背面的对应位置设有触点B1至B12；触点A1至A12及触点B1至B12用于焊接并电连接USB插头；电路板的中间设有两排可插入铜柱的对称的触点孔，触点孔贯穿电路板正面与背面并连通电路板正面与背面；两排触点孔下方还对称设有两个次触点孔，分别连接触点A8和触点B8，插入于两个次触点孔的铜柱外露于连接器之外，触点A8和触点B8用于侦测或写入产品ID；USB插头包括一体注塑成型的塑胶外壳、端子组以及实心胶芯，外壳包括插头壳和后壳，外壳内设有一方形阶梯槽以及扁平通孔，阶梯槽与通孔连通，阶梯槽设在后壳中并且阶梯槽开口设在后壳的后端，通孔贯穿插头壳；端子组由两组相互平行的金属端子组成，每组金属端子有若干个相互平行扁平的金属端子，金属端子的后段用于焊接于电路板上；胶芯前部插入到通孔中，胶芯后部置于阶梯槽中；金属端子分为三段：长条形的前段、板状的中段和条形的后段，前段与中段连接的后半部分被夹在胶芯前部与通孔之间，前段的前半部分上设有触点。

进一步地，通孔的上下内壁均设有第一凹槽，金属端子的前段插入到第一凹槽中。阶梯槽与胶芯对应的部分设有第二凹槽，金属端子的中段插入到第二凹槽中。

进一步地，胶芯插入通孔的部分为板状，胶芯置于阶梯槽的部分设有凸台，凸台上设有若干第三凹槽，金属端子的中段分别插入到第二凹槽和第三凹槽中。

进一步地，金属端子的前段设有触点的相对另一边为斜边。

进一步地，电路板设置触点A1至A12的侧边位置设有沿着触点A1至A12排布方向延伸的凸台，凸台延伸长度大于触点A1至A12的距离，凸台的凸起方向垂直于电路板的侧边。

进一步地，凸台与电路板的侧边连接处的内角设为圆角。

进一步地，基体还包括盖板和底板，电路板夹在盖板与底板之间，电路板正面朝向于盖板，电路板背面朝向于底板，电路板上插接的铜柱均贯穿盖板并外露于盖板之外。

进一步地，盖板上对应触点A1至A12的位置上设有让位槽；底板上对应触点B1至B12的位置上同样设有让位槽。