[实用新型]一种SMD产品的检验治具有效
| 申请号： | 201920310583.6 | 申请日： | 2019-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN209544286U | 公开（公告）日： | 2019-10-25 |
| 发明（设计）人： | 朱富斌;谭亮;陈永华;黄雪梅;殷胜杰 | 申请（专利权）人： | 深圳市长方集团股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H01L33/48;H01L33/62 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 底板 横挡板 纵挡板 检验 治具 固定螺钉 作业效率 倾斜边 产品检测设备 本实用新型 不良产品 不良现象 材料放置 产品表面 底板连接 内边缘 下侧面 触碰 固晶 焊线 卡槽 良率 拿取 生产 岗位 | ||
【权利要求书】：
1.一种SMD产品的检验治具，其特征在于：它包含底板（1）、横挡板（2）、纵挡板（3）、固定螺钉（4）；底板（1）的两条横边上设有横挡板（2），底板（1）的其中一条纵边上设有纵挡板（3）；横挡板（2）和纵挡板（3）均利用固定螺钉（4）与底板（1）连接固定，且横挡板（2）和纵挡板（3）的内边缘下侧面均设有倾斜边（5）；倾斜边（5）与底板（1）之间形成卡槽（6）。
2.根据权利要求1所述的一种SMD产品的检验治具，其特征在于：所述的横挡板（2）和纵挡板（3）的最大厚度小于底板（1）厚度的1/2。
3.根据权利要求1所述的一种SMD产品的检验治具，其特征在于：所述的固定螺钉（4）的总数量大于等于13个。
4.根据权利要求1所述的一种SMD产品的检验治具，其特征在于：所述的横挡板（2）上的卡槽（6）的深度从左至右逐渐递减式设置。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
