[实用新型]一种用于硅块电阻率测试的定位装置有效
| 申请号： | 201920411711.6 | 申请日： | 2019-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN209946214U | 公开（公告）日： | 2020-01-14 |
| 发明（设计）人： | 黄晶晶;张涛;肖贵云;叶鹏;陈养俊;姜志兴;贺小峰;双瑜倩;邓清香 | 申请（专利权）人： | 晶科能源有限公司;浙江晶科能源有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R27/02 |
| 代理公司： | 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 334100 江西*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 硅块 测试孔 定位板 去头 去尾 电阻率测试 宽度相等 去除 通孔 本实用新型 定位板顶端 测试数据 测试效率 定位装置 硅块尾部 人为因素 测试点 固定的 再利用 尺子 申请 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于硅块电阻率测试的定位装置，其特征在于，包括宽度与待测硅块宽度相等的定位板，所述定位板上设置有通孔，所述通孔包括去头测试孔和去尾测试孔，其中：
所述去头测试孔的中心与所述定位板顶端的距离等于所述待测硅块头部待去除的高度，所述去尾测试孔的中心与所述定位板底端的距离等于所述待测硅块尾部待去除的高度。
2.根据权利要求1所述的用于硅块电阻率测试的定位装置，其特征在于，所述定位板的高度等于所述待测硅块的高度。
3.根据权利要求1所述的用于硅块电阻率测试的定位装置，其特征在于，所述定位板上分别设置有多个所述去头测试孔和多个所述去尾测试孔。
4.根据权利要求3所述的用于硅块电阻率测试的定位装置，其特征在于，所述去头测试孔、所述去尾测试孔均匀分布在所述定位板上。
5.根据权利要求4所述的用于硅块电阻率测试的定位装置，其特征在于，所述定位板上分别设置有3个所述去头测试孔和3个所述去尾测试孔。
6.根据权利要求1至5任一项所述的用于硅块电阻率测试的定位装置，其特征在于，所述通孔为方形孔或圆形孔。
7.根据权利要求6所述的用于硅块电阻率测试的定位装置，其特征在于，所述通孔的孔径为6mm。
8.根据权利要求6所述的用于硅块电阻率测试的定位装置，其特征在于，所述定位板为塑料定位板。
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