[实用新型]一种用于硅块电阻率测试的定位装置有效

专利信息
申请号: 201920411711.6 申请日: 2019-03-28
公开(公告)号: CN209946214U 公开(公告)日: 2020-01-14
发明(设计)人: 黄晶晶;张涛;肖贵云;叶鹏;陈养俊;姜志兴;贺小峰;双瑜倩;邓清香 申请(专利权)人: 晶科能源有限公司;浙江晶科能源有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R27/02
代理公司: 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 罗满
地址: 334100 江西*** 国省代码: 江西;36
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摘要:
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【说明书】:

实用新型公开了一种用于硅块电阻率测试的定位装置,包括宽度与待测硅块宽度相等的定位板,定位板上设置有通孔,通孔包括去头测试孔和去尾测试孔,去头测试孔的中心与定位板顶端的距离等于待测硅块头部待去除的高度,去尾测试孔的中心与定位板底端的距离等于待测硅块尾部待去除的高度。本申请公开的上述技术方案,设置一宽度与待测硅块宽度相等的定位板,在对硅块进行电阻率测试时,可以直接通过定位板上的去头测试孔和去尾测试孔来定位待测硅块的电阻率测试点,即无需再利用尺子定位硅块去头去尾的高度,因此,可以提高测试效率。另外,由于所选择的测试点是固定的,因此,则可以避免人为因素的影响,从而可以提高测试数据的可靠性和重复性。

技术领域

本实用新型涉及硅块测试技术领域,更具体地说,涉及一种用于硅块电阻率测试的定位装置。

背景技术

在太阳能电池的制造过程中,铸锭所得的硅锭需要在常温条件下冷却一段时间(去除硅锭内部的应力)之后才能拉制开方,开方结束后,需要对开方所得的硅块进行品检,其中,硅块电阻率测试是硅块品检中不可缺少的一个环节。由于硅块头部和尾部的电阻率比较大,而且少子寿命比较短,因此,在进行硅块电阻率测试时需要定位去头的高度和去尾的高度,然后,再进行电阻率测试。

在现有的硅块电阻率测试中,需要操作工用尺子定位硅块去头去尾的高度,然后,在相应位置(同一高度)上划线,并在划线位置上随机选择测试点进行测试。但是,在上述测试过程中,由于每次均需要借助尺子测量去头去尾的位置,因此,操作比较费时,测试效率比较低。另外,由于不同操作工在测试时所选择的测试点会存在一定的差异,因此,则会导致数据采集标准不同,从而则会导致数据的可靠性和重复性相对较差。

综上所述,如何提高硅块电阻率测试的效率,并提高测试数据的可靠性和重复性,是目前本领域技术人员亟待解决的技术问题。

实用新型内容

有鉴于此,本实用新型的目的是提供一种用于硅块电阻率测试的定位装置,以提高硅块电阻率测试的效率,并提高测试数据的可靠性和重复性。

为了实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:

一种用于硅块电阻率测试的定位装置,包括宽度与待测硅块宽度相等的定位板,所述定位板上设置有通孔,所述通孔包括去头测试孔和去尾测试孔,其中:

所述去头测试孔的中心与所述定位板顶端的距离等于所述待测硅块头部待去除的高度,所述去尾测试孔的中心与所述定位板底端的距离等于所述待测硅块尾部待去除的高度。

优选的,所述定位板的高度等于所述待测硅块的高度。

优选的,所述定位板上分别设置有多个所述去头测试孔和多个所述去尾测试孔。

优选的,所述去头测试孔、所述去尾测试孔均匀分布在所述定位板上。

优选的,所述定位板上分别设置有3个所述去头测试孔和3个所述去尾测试孔。

优选的,所述通孔为方形孔或圆形孔。

优选的,所述通孔的孔径为6mm。

优选的,所述定位板为塑料定位板。

本实用新型提供了一种用于硅块电阻率测试的定位装置,包括宽度与待测硅块宽度相等的定位板,定位板上设置有通孔,通孔包括去头测试孔和去尾测试孔,其中:去头测试孔的中心与定位板顶端的距离等于待测硅块头部待去除的高度,去尾测试孔的中心与定位板底端的距离等于待测硅块尾部待去除的高度。

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