[实用新型]一种硅片不良品检测装置有效

专利信息
申请号: 201920412679.3 申请日: 2019-03-29
公开(公告)号: CN209690194U 公开(公告)日: 2019-11-26
发明(设计)人: 郑森平;江水德 申请(专利权)人: 衢州三盛电子有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 324000 浙江省衢*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 传送带 摄像机 检测 硅片 工作架 稳固架 不良品检测装置 转向装置 下表面 检测技术领域 本实用新型 硅片输送 检测装置 摄像检测 深度检测 依次设置 连接杆 上表面 外壁 斜向 转盘 焊接
【权利要求书】:

1.一种硅片不良品检测装置,包括第一传送带(1),其特征在于:所述第一传送带(1)的两侧均设置有第一工作架(2),所述第一工作架(2)的外壁处通过连接杆(3)焊接有第一左右检测摄像机(4),所述第一工作架(2)的顶部固定连接有稳固架(5),所述稳固架(5)下表面的一侧固定连接有顶部检测摄像机(6),所述稳固架(5)下表面的另一侧固定连接有第一深度检测摄像机(7),所述第一传送带(1)的一侧从左到右依次设置有转向装置(8)、第二传送带(9)和斜向检测装置(10),所述转向装置(8)包括转盘(81),所述转盘(81)上表面的一侧焊接有挡板(82),所述转盘(81)的外壁处通过皮带(83)传动连接有转轴(84),所述转轴(84)的底部固定连接有电机(85),所述第二传送带(9)的两侧均设置有第二工作架(11),所述第二工作架(11)的外壁处焊接有第二左右检测摄像机(12),所述第二工作架(11)的顶部通过支撑杆(13)固定连接有第二深度检测摄像机(14)。

2.根据权利要求1所述的一种硅片不良品检测装置,其特征在于:所述第一传送带(1)的上表面设置有待检测硅片,所述第一传送带(1)的底部通过支腿固定连接在地面,所述第一传送带(1)的规格与第二传送带(9)的规格相同。

3.根据权利要求1所述的一种硅片不良品检测装置,其特征在于:所述转盘(81)的底部通过轴承(86)活动连接有加固底座(87),所述电机(85)的底部焊接在加固底座(87)的上表面。

4.根据权利要求1所述的一种硅片不良品检测装置,其特征在于:所述第二工作架(11)外壁的底端固定连接有底部检测摄像机(15),所述底部检测摄像机(15)位于第二传送带(9)的正下方。

5.根据权利要求1所述的一种硅片不良品检测装置,其特征在于:所述斜向检测装置(10)包括辊轮架(101),所述辊轮架(101)的顶部活动连接有缓冲辊(102),所述辊轮架(101)的底部固定连接有减震座(103),所述辊轮架(101)的一侧设置有检测台(104),所述检测台(104)的一端固定连接有防撞块,所述检测台(104)斜面与减震座(103)的夹角为六十度。

6.根据权利要求1所述的一种硅片不良品检测装置,其特征在于:所述第二深度检测摄像机(14)与支撑杆(13)之间的夹角为一百二十度,所述第二深度检测摄像机(14)与检测台(104)的斜面处于平行状态。

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