[实用新型]一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置有效
| 申请号： | 201920483832.1 | 申请日： | 2019-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN209979830U | 公开（公告）日： | 2020-01-21 |
| 发明（设计）人： | 王文生 | 申请（专利权）人： | 北京森社电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00;G01D18/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100121 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 环形磁芯 测试盒 测试模块 本实用新型 副边线圈 原边线圈 让位槽 霍尔元件输出 老化检测装置 半导体设备 霍尔传感器 可拆卸连接 产品报废 霍尔元件 接线端子 电流源 故障率 外侧壁 磁通 卡接 连通 缠绕 | ||
1.一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置，其特征在于：包括测试盒(1)以及与测试盒(1)可拆卸连接的测试模块(2)，所述测试模块(2)包括底盒(25)，所述底盒(25)内设置有环形磁芯(21)，所述环形磁芯(21)缠绕有原边线圈(23)和副边线圈(22)，所述环形磁芯(21)上卡接有霍尔元件(32)；所述测试盒(1)设置有让位槽(13)，所述让位槽(13)位于环形磁芯(21)的磁通回路上，所述底盒(25)的外侧壁设置有连通原边线圈(23)和霍尔元件(32)输出端的接线端子，所述测试盒(1)内设置有连接所述副边线圈(22)的电流源(11)，所述底盒(25)的侧壁开设有用于置放线路的排线孔(251)。
2.根据权利要求1所述的一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置，其特征在于：所述测试模块(2)的外侧壁设有插接块(27)，所述测试盒(1)的外表面配合插接块(27)设有插接槽(12)。
3.根据权利要求2所述的一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置，其特征在于：所述插接块(27)呈T形，所述插接槽(12)配合插接块(27)呈带有挂耳的C形。
4.根据权利要求1所述的一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置，其特征在于：所述底盒(25)转动连接的顶盖(26)。
5.根据权利要求4所述的一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置，其特征在于：所述底盒(25)内设有用于限定环形磁芯(21)的限定短柱(261)。
6.根据权利要求4所述的一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置，其特征在于：所述底盒(25)内设有用于置放环形磁芯(21)的环形的置放槽(24)。
7.根据权利要求6所述的一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置，其特征在于：所述置放槽(24)向置放槽(24)的圆心延伸有用于卡接霍尔元件(32)的卡接槽(241)。
8.根据权利要求7所述的一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置，其特征在于：所述卡接槽(241)内设有用于固定霍尔元件(32)的弹簧片(242)。
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