[实用新型]一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置

说明书

本实用新型涉及一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置，涉及半导体设备领域，其包括测试盒以及与测试盒可拆卸连接的测试模块，所述测试模块内设置有环形磁芯，所述环形磁芯缠绕有原边线圈和副边线圈，所述霍尔元件卡接在环形磁芯上；所述测试盒设置有让位槽，所述让位槽位于环形磁芯的磁通回路上，所述测试模块的外侧壁设置有连通原边线圈和霍尔元件输出端的接线端子，所述测试盒内设置有连接所述副边线圈的电流源。本实用新型具有减少产品的故障率和废品率的效果。

技术领域

本实用新型涉及半导体设备的技术领域，尤其是涉及一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置。

背景技术

如图1所示，目前的霍尔传感器3包括一元件磁芯36、缠绕在元件磁芯36上的补偿线圈31、以及卡接在元件磁芯36上的霍尔元件32；在生产霍尔传感器过程中，为了保护传感器内部电路，一般会对霍尔传感器进行灌封；为了保证传感器质量，在传感器出厂前，都需要对传感器进行老化测试；在对霍尔传感器3进行老化测试时，先将一线缆（图中未标出）穿过元件磁芯36的环心处，再通过外部电源向线缆通以目标电流，当线缆内的电流通过元件磁芯36时用下，霍尔元件32产生电位差，元件磁芯36产生磁场，在磁场作用下形成输出信号，随后输出信号依次通过检测电路33和输出电路34传输至补偿线圈31，并在补偿线圈31内产生补偿电流，当补偿电流产生的磁场与线缆通电产生磁场相同时，通过检测位于补偿线圈31端部的检测端子35实现对输出电流的检测；当检测端子35输出的输出信号准确并且持续稳定运行达到预设时间后，即判定为老化检测成功，可作为合格产品出库，如不满足以上条件，则判定为老化检测失败，作为不合格产品处理；其中，检测电路33包括一组取样电阻以及与取样电阻电连接的运放电路，所述输出电路34包括一对并联的三极管。

上述中的现有技术方案存在以下缺陷：现有的测试是在产品进行灌封以后再进行检测，当检测到霍尔元件不合格时，原本能够通过更换电路元件修复的霍尔传感器只能够整个产品都作报废处理，造成了材料和人工的浪费；同时，在进行检测过程中，需要向电缆输入较大的电流，从而实现对霍尔元件的老化检测，造成了较大的电力损耗。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置，能够在产品为半成品时对霍尔元件进行老化检测，减少产品废品率。

本实用新型的上述实用新型目的是通过以下技术方案得以实现的：

一种降低能耗和产品报废率的霍尔传感器老化检测装置，包括测试盒以及与测试盒可拆卸连接的测试模块，所述测试模块包括底盒，所述底盒内设置有环形磁芯，所述环形磁芯缠绕有原边线圈和副边线圈，所述环形磁芯卡接有霍尔元件；所述测试盒设置有让位槽，所述让位槽位于环形磁芯的磁通回路上，所述底盒的外侧壁设置有连通原边线圈和霍尔元件输出端的接线端子，所述测试盒内设置有连接所述副边线圈的电流源，所述底盒的侧壁开设有用于置放线路的排线孔。

通过采用上述技术方案，分别将环形磁芯和霍尔元件安装在测试模块内，再将测试模块安装在测试盒上，并使测试模块外侧的接线端子分别与测试盒相连接，再将测试盒内的电流源与环形磁芯的副边线圈相连接，启动电流源，使副边线圈产生磁场，随后霍尔元件产生电位差，形成输出信号，输出信号最终传输至副边补偿线圈，并在副边补偿线圈内产生副边补偿电流，最终通过检测输出电流的稳定性来判断霍尔元件是否合格；当需要更换霍尔元件时，将测试模块从测试盒上取下，完成对霍尔元件的更换后再将测试模块安装在测试盒上；将霍尔元件置放在测试模块内检测，无需在产品进行灌封后再进行检测，从而减少因产品报废带来的材料和人工的浪费，降低了废品率；同时电流源的电流较小，从而减少了电力的损耗。

本实用新型进一步设置为：所述测试模块的外侧壁设有插接块，所述测试盒的外表面配合插接块设有插接槽。

通过采用上述技术方案，测试模块通过插接块沿插接槽与测试盒相插接，从而方便对测试模块进行拆装。