[实用新型]一种弹簧片及测试装置

权利要求书

1.一种弹簧片，其特征在于，弹簧片(1)为由金属材质制成的片状结构，所述弹簧片(1)呈大致的阶梯状，所述弹簧片(1)包括依次连接的第一节(11)、第二节(12)、第三节(13)和第四节(14)，所述第一节(11)的端部的表面为连接面(111)，所述连接面(111)上间隔设有多个凸起(112)，所述凸起(112)用于和芯片的引脚抵接。

2.根据权利要求1所述的弹簧片，其特征在于，所述连接面(111)呈波浪形。

3.根据权利要求1所述的弹簧片，其特征在于，多个所述凸起(112)均布于所述连接面(111)。

4.根据权利要求1-3任一项所述的弹簧片，其特征在于，所述第一节(11)和所述第二节(12)、所述第二节(12)和所述第三节(13)、所述第三节(13)和所述第四节(14)均通过圆弧面连接。

5.根据权利要求4所述的弹簧片，其特征在于，沿所述第一节(11)的延伸方向，所述第四节(14)包括相对设置第一侧壁(15)和第二侧壁(16)，所述第一侧壁(15)和所述第二侧壁(16)的宽度均等于所述弹簧片(1)的厚度，所述第一侧壁(15)相对所述第二侧壁(16)远离所述连接面(111)，所述第二侧壁(16)与所述第三节(13)连接，所述第一侧壁(15)呈弧形。

6.一种测试装置，其特征在于，包括权利要求1-5任一项所述的弹簧片(1)，所述弹簧片(1)的数量为多个。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括测试基座(2)和第一弹性件(3)，所述测试基座(2)的上表面间隔设有多个安装槽(21)，多个所述安装槽(21)与多个所述弹簧片(1)一一对应设置，所述安装槽(21)用于容置所述弹簧片(1)，所述连接面(111)能够伸出所述测试基座(2)的上表面，所述测试基座(2)的下表面设有与各个所述安装槽(21)均连通的第一容纳槽(23)，所述第一弹性件(3)嵌设于所述第一容纳槽(23)，所述第一弹性件(3)分别与所述第二节(12)和所述第三节(13)的侧壁抵接，所述测试基座(2)上对应每个所述安装槽(21)均设有限位凹槽(22)，所述限位凹槽(22)与所述安装槽(21)相通；所述第四节(14)远离所述第三节(13)的一端位于所述限位凹槽(22)中，且所述第四节(14)能够与所述限位凹槽(22)滑动抵接。

8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述第四节(14)的第一侧壁(15)用于和导电件滑动抵接。

9.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述测试基座(2)的下表面还设有与各个所述安装槽(21)均连通的第二容纳槽(24)，所述测试装置还包括第二弹性件(4)，所述第二弹性件(4)嵌设于所述第二容纳槽(24)，所述第二弹性件(4)和所述第一弹性件(3)分别位于所述弹簧片(1)的两侧，所述第二弹性件(4)与所述第四节(14)的第二侧壁(16)抵接。

10.根据权利要求9所述的测试装置，其特征在于，所述第一弹性件(3)和所述第二弹性件(4)均为弹性胶棒。