[实用新型]一种集成电路测试装置

权利要求书

1.一种集成电路测试装置，其特征在于，包括底座(1)、滑槽(2)、第一测试用PCB(3)、放置板(4)、集成电路(7)、和测试装置(8)，所述滑槽(2)开设在所述底座(1)的上表面，所述第一测试用PCB(3)设置在所述底座(1)的上表面，所述第一测试用PCB(3)固定连接于所述底座(1)，所述放置板(4)设置在所述第一测试用PCB(3)的前表面，所述放置板(4)固定连接于所述第一测试用PCB(3)，所述集成电路(7)设置在所述放置板(4)的上表面，所述集成电路(7)可拆卸连接于所述放置板(4)，所述测试装置(8)包括第二测试用PCB(81)、第三测试用PCB(82)、第一移动座(83)、第二移动座(84)、测试探针(85)、滑动块(88)和限位弹簧(89)，所述第三测试用PCB(82)设置在所述底座(1)的前端，所述第三测试用PCB(82)与所述第二测试用PCB(81)形成一个直角，所述第一移动座(83)设置在所述第二测试用PCB(81)的下表面，所述第一移动座(83)固定连接于所述第二测试用PCB(81)，所述第二移动座(84)设置在所述第三测试用PCB(82)的下表面，所述第二移动座(84)固定连接于所述第三测试用PCB(82)，所述测试探针(85)设置在所述第二测试用PCB(81)的内部，所述测试探针(85)固定连接于所述第二测试用PCB(81)，所述滑动块(88)设置在所述第二移动座(84)的下表面，所述滑动块(88)固定连接于所述第二移动座(84)，且所述滑动块(88)位于所述第二测试用PCB(81)的内部，所述限位弹簧(89)设置在所述第三测试用PCB(82)的后侧，所述限位弹簧(89)的一端固定连接于所述第三测试用PCB(82)，所述第二移动座(84)设置在所述底座(1)的上表面，所述第二移动座(84)滑动连接于所述底座(1)，所述集成电路(7)的测试引脚与对应的所述测试探针(85)的上端导电接触。

2.如权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，还包括压板(5)，所述压板(5)设置在所述第一测试用PCB(3)的上表面，所述压板(5)通过转轴转动连接于所述第一测试用PCB(3)。

3.如权利要求2所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述压板(5)还包括把手(6)，所述把手(6)设置在所述压板(5)的上表面，所述把手(6)固定连接于所述压板(5)。

4.如权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述第二测试用PCB(81)的数量是两个，两个所述第二测试用PCB(81)左右对称设置在所述第一测试用PCB(3)的前表面。

5.如权利要求1或4所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述测试装置(8)还包括圆孔(86)，两个所述第二测试用PCB(81)的相对面、所述第三测试用PCB(82)与所述第一测试用PCB(3)的相对面均开设有所述圆孔(86)。

6.如权利要求5所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，另一个所述第二测试用PCB(81)、所述第三测试用PCB(82)和所述第一测试用PCB(3)的内部均设置有一组所述测试探针(85)，且每组所述测试探针(85)均与相应的所述圆孔(86)相对应。

7.如权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述测试装置(8)还包括射频测试头(87)，所述射频测试头(87)固定设置在所述第一移动座(83)的上表面，且所述射频测试头(87)穿透所述第二测试用PCB(81)的下表面并位于所述测试探针(85)的两侧，所述射频测试头(87)与所述测试探针(85)导电接触。

8.如权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，所述第一移动座(83)靠近所述放置板(4)的一侧同样设置有所述限位弹簧(89)，所述限位弹簧(89)的另一端固定连接于所述放置板(4)。