[实用新型]一种集成电路测试装置

说明书

本实用新型属于集成电路测试技术领域，公开了一种集成电路测试装置，包括底座、滑槽、第一测试用PCB、放置板、集成电路、和测试装置，所述滑槽开设在所述底座的上表面，所述第一测试用PCB设置在所述底座的上表面，所述第一测试用PCB固定连接于所述底座，方便所述第二测试用PCB和所述第三测试用PCB的滑动，利用所述滑动块在所述滑槽中的滑动，所述第一移动座和所述第二移动座可以带动所述第二测试用PCB和所述第三测试用PC分别向外侧移动，从而可以改变所述第一测试用PCB、所述第二测试用PCB和所述第三测试用PCB之间的空间大小，方便使用者对不同的所述集成电路进行测试，降低了集成电路测试的成本，从而减轻了相关测试企业资金负担。

技术领域

本实用新型属于集成电路测试技术领域，尤其涉及一种集成电路测试装置。

背景技术

随着集成电路集成规模的扩大和时钟频率的提高，信号连接线上的互连效应已成为影响电路信号完整性以及系统整体性能的主要因素，在高速电路中，由于趋肤效应，边缘效应以及衬底损耗等因素的影响，互连线的分布参数随频率变化的现象越来越普遍，对测试技术的要求也越来越高。

针对高频集成电路的测试则必须采用专用的高频导电体来测试，由于高频传导技术要求高，技术难度大，目前此类技术往往掌握在国外科技公司，因为独占技术的原因，这类集成电路测试装置价格极高，给相关测试企业带测试成本的增加。

实用新型内容

本实用新型提供一种集成电路测试装置，旨在解决针对高频集成电路的测试则必须采用专用的高频导电体来测试，由于高频传导技术要求高，技术难度大，目前此类技术往往掌握在国外科技公司，因为独占技术的原因，这类集成电路测试装置价格极高，给相关测试企业带测试成本的增加的问题。

本实用新型是这样实现的，一种集成电路测试装置，包括底座、滑槽、第一测试用PCB、放置板、集成电路、和测试装置，所述滑槽开设在所述底座的上表面，所述第一测试用PCB设置在所述底座的上表面，所述第一测试用PCB固定连接于所述底座，所述放置板设置在所述第一测试用PCB的前表面，所述放置板固定连接于所述第一测试用PCB，所述集成电路设置在所述放置板的上表面，所述集成电路可拆卸连接于所述放置板，所述测试装置包括第二测试用PCB、第三测试用PCB、第一移动座、第二移动座、测试探针、滑动块和限位弹簧，所述第三测试用PCB设置在所述底座的前端，所述第三测试用PCB与所述第二测试用PCB形成一个直角，所述第一移动座设置在所述第二测试用PCB的下表面，所述第一移动座固定连接于所述第二测试用PCB，所述第二移动座设置在所述第三测试用PCB的下表面，所述第二移动座固定连接于所述第三测试用PCB，所述测试探针设置在所述第二测试用PCB的内部，所述测试探针固定连接于所述第二测试用PCB，所述滑动块设置在所述第二移动座的下表面，所述滑动块固定连接于所述第二移动座，且所述滑动块位于所述第二测试用PCB的内部，所述限位弹簧设置在所述第三测试用PCB的后侧，所述限位弹簧的一端固定连接于所述第三测试用PCB，所述第二移动座设置在所述底座的上表面，所述第二移动座滑动连接于所述底座，所述集成电路的测试引脚与对应的所述测试探针的上端导电接触。

优选的，还包括压板，所述压板设置在所述第一测试用PCB的上表面，所述压板通过转轴转动连接于所述第一测试用PCB。

优选的，所述压板还包括把手，所述把手设置在所述压板的上表面，所述把手固定连接于所述压板。

优选的，所述第二测试用PCB的数量是两个，两个所述第二测试用PCB左右对称设置在所述第一测试用PCB的前表面。

优选的，所述测试装置还包括圆孔，两个所述第二测试用PCB的相对面、所述第三测试用PCB与所述第一测试用PCB的相对面均开设有所述圆孔。

优选的，另一个所述第二测试用PCB、所述第三测试用PCB和所述第一测试用PCB的内部均设置有一组所述测试探针，且每组所述测试探针均与相应的所述圆孔相对应。