[实用新型]芯片检测装置

说明书

本实用新型公开了一种芯片检测装置，所述芯片检测装置包括：模具芯片、导线和测试件，所述导线与所述模具芯片和所述测试件分别连接，所述测试件包括：基体和探针，所述探针设置于所述基体；所述探针的部分伸出于所述基体的表面，所述探针与所述导线一一对应连接。由此，芯片检测装置一方面能够检测不同类型的芯片，并且其更加便于更换芯片，节约时间，另一方面能够保证芯片的接触端子不被破坏，从而保证芯片的使用寿命。

技术领域

本实用新型涉及成像设备耗材技术领域，尤其是涉及一种芯片检测装置。

背景技术

成像设备(打印机、复印机等)中通常需要安装碳粉盒或者墨盒等耗材装置才可以正常工作，并且耗材装置上需要安装耗材芯片，耗材芯片与成像盒内的主板通信之后，成像盒才能正常使用耗材装置内的碳粉或者墨水等，耗材芯片为打印机的正常工作起了决定性的作用，因此需要监听打印机与芯片的相互通信。

相关技术中，监听打印机与芯片的通信通常采用在芯片的接触端子上焊接引线，再将导线连接到逻辑分析仪上来监听的方法。此种方法有一定的弊端，一方面在芯片的接触端子上直接焊接，会导致芯片的接触端子被破坏，从而影响芯片的正常工作，并且此种方法监听的通讯稳定性较差；另一方面，测试芯片时往往会上千次插拔粉盒，易导致粉盒被损坏产生漏粉的现象，使其使用寿命减短，不利于长期使用。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本实用新型的一个目的在于提出一种芯片检测装置，该芯片检测装置便于更换芯片，还能够避免损坏芯片的接触端子。

根据本实用新型的芯片，包括：模具芯片、导线和测试件，所述导线与所述模具芯片和所述测试件分别连接，所述测试件包括：基体和探针，所述探针设置于所述基体；所述探针的部分伸出于所述基体的表面，所述探针与所述导线一一对应连接。

由此，本实用新型的芯片检测装置，一方面能够检测不同类型的芯片，并且其更加便于更换芯片，节约时间，另一方面能够保证芯片的接触端子不被破坏，从而保证芯片的使用寿命。

在本实用新型的一些示例中，所述探针的至少一部分相对所述基体可伸缩。

在本实用新型的一些示例中，所述探针包括：针管和针头，所述针管固定于所述基体且与所述导线连接，所述针头可伸缩地设置于所述针管内。

在本实用新型的一些示例中，还包括：弹性部，所述弹性部止抵在所述针头和所述针管之间，以推动所述针头伸出所述针管。

在本实用新型的一些示例中，所述针头和所述针管均为金属管，所述弹性部为金属弹簧。

在本实用新型的一些示例中，所述探针从所述基体的顶面伸出；

所述测试件还包括：压板，所述压板位于所述基体的上方。

在本实用新型的一些示例中，所述测试件还包括：枢转轴和扭簧，所述压板通过所述枢转轴设置于所述基体，所述扭簧绕设于所述枢转轴且一端连接于所述压板，所述压板远离所述枢转轴的一端构造为压头。

在本实用新型的一些示例中，所述基体上设置有调节机构，所述调节机构用于调节所述探针在基体上的位置。

在本实用新型的一些示例中，所述基体上设置有调节孔或调节槽，所述探针穿插于所述调节孔或所述调节槽内。

本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明

本实用新型的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是根据本实用新型一种实施例的芯片检测装置的正视图；

图2是芯片检测装置的立体图；