[实用新型]一种适用于TF卡测试分析架

权利要求书

1.一种适用于TF卡测试分析架，其特征在于，包括：

Flash芯片，所述Flash芯片具有一缺口，所述Flash芯片被所述缺口分隔为第一插头和第二插头；

Flash底板，其中一面设有两组排针，所述两组排针分别具有两列，所述两组排针不对称或者至少一组对应的两列排针不对称，所述Flash底板的另一面设有固定座，所述固定座包括被分隔板分隔的插口和插槽，所述插槽的开口背向所述插口向外，所述插口与所述第一插头相适配插接，所述插槽与所述第二插头相适配插接，所述分隔板与所述缺口插接；

PCB底板，设有与所述排针对应适配的排母，所述PCB底板向外一体延伸有一延伸部，所述延伸部的外端设有TF卡模拟接头，所述TF卡模拟接头的一侧具有卡口，所述PCB底板上集成有控制器芯片。

2.根据权利要求1所述的一种适用于TF卡测试分析架，其特征在于，两组排针中的至少一组的两列排针形成梯形，所述排母与所述排针对应适配。

3.根据权利要求1所述的一种适用于TF卡测试分析架，其特征在于，两组排针中的至少一组的两列排针中的至少一列具有缺针，所述缺针对应的排母口封堵不可插接。

4.根据权利要求3所述的一种适用于TF卡测试分析架，其特征在于，所述两组所述排针的其中一组中的其中一列具有所述缺针，以使所述两组排针的针数不同。

5.根据权利要求3所述的一种适用于TF卡测试分析架，其特征在于，所述两组所述排针的其中一组中的两列排针均具有所述缺针，所述两列排针的所述缺针数量不对等，以使所述两组排针的针数不同。

6.根据权利要求3所述的一种适用于TF卡测试分析架，其特征在于，所述两组排针均具有所述缺针，所述两组排针的所述缺针位置不同。

7.根据权利要求3所述的一种适用于TF卡测试分析架，其特征在于，所述两组排针均具有所述缺针，所述两组排针的所述缺针数量不同。

8.根据权利要求1所述的一种适用于TF卡测试分析架，其特征在于，所述缺口的深度大于所述分隔板的高度。

9.根据权利要求1所述的一种适用于TF卡测试分析架，其特征在于，所述分隔板背向所述Flash底板的一端为弧面。

10.根据权利要求1所述的一种适用于TF卡测试分析架，其特征在于，所述缺口的棱角处设有倒圆角。