[实用新型]一种适用于TF卡测试分析架

说明书

本实用新型涉及一种适用于TF卡测试分析架，包括：Flash芯片，所述Flash芯片具有一缺口，所述Flash芯片被所述缺口分隔为第一插头和第二插头；Flash底板，其中一面设有两组排针，所述两组排针分别具有两列，所述两组排针不对称或者至少一组对应的两列排针不对称，所述Flash底板的另一面设有固定座，所述固定座包括被分隔板分隔的插口和插槽，所述插槽的开口背向所述插口向外，所述插口与所述第一插头相适配插接，所述插槽与所述第二插头相适配插接，所述分隔板与所述缺口插接；PCB底板，设有与所述排针对应适配的排母，所述PCB底板向外一体延伸有一延伸部，所述延伸部的外端设有TF卡模拟接头，所述TF卡模拟接头的一侧具有卡口，所述PCB底板上集成有控制器芯片。

技术领域

本实用新型涉及数据闪存技术领域，尤其涉及一种适用于TF卡测试分析架。

背景技术

TF卡又称T-Flash卡，全名：TransFLash，又名：MicroSD，目前基本所有的手机都使用的是TF卡，这主要是由于TF卡体积更小，更利于节省空间，而一般传统的SD卡则主要用于用于MP3、数码摄像机、数码相机、电子图书、AV器材等，不过TF卡也可以安装卡套充当SD卡来使用，但SD卡由于体积较大，不能使用TF卡插槽。

TF卡出厂前需要经过检测，主要检测包括读写速度、容量、坏道等，而现有的检测工具装配速度慢，适用型号单一，每次更换型号需要重新焊接组装相应的Flash芯片，造成生产成本高，生产效率低下。

实用新型内容

鉴于上述状况，有必要提供一种能够方便更换Flash芯片的适用于TF卡测试分析架。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：一种适用于TF卡测试分析架，包括：Flash芯片，所述Flash芯片具有一缺口，所述Flash芯片被所述缺口分隔为第一插头和第二插头；Flash底板，其中一面设有两组排针，所述两组排针分别具有两列，所述两组排针不对称或者至少一组对应的两列排针不对称，所述Flash底板的另一面设有固定座，所述固定座包括被分隔板分隔的插口和插槽，所述插槽的开口背向所述插口向外，所述插口与所述第一插头相适配插接，所述插槽与所述第二插头相适配插接，所述分隔板与所述缺口插接；PCB底板，设有与所述排针对应适配的排母，所述PCB底板向外一体延伸有一延伸部，所述延伸部的外端设有TF卡模拟接头，所述TF卡模拟接头的一侧具有卡口，所述PCB底板上集成有控制器芯片。

进一步的，两组排针中的至少一组的两列排针形成梯形，所述排母与所述排针对应适配。

进一步的，两组排针中的至少一组的两列排针中的至少一列具有缺针，所述缺针对应的排母口封堵不可插接。

进一步的，所述两组所述排针的其中一组中的其中一列具有所述缺针，以使所述两组排针的针数不同。

进一步的，所述两组所述排针的其中一组中的两列排针均具有所述缺针，所述两列排针的所述缺针数量不对等，以使所述两组排针的针数不同。

进一步的，所述两组排针均具有所述缺针，所述两组排针的所述缺针位置不同。

进一步的，所述两组排针均具有所述缺针，所述两组排针的所述缺针数量不同。

进一步的，所述缺口的深度大于所述分隔板的高度。

进一步的，所述分隔板背向所述Flash底板的一端为弧面。

进一步的，所述缺口的棱角处设有倒圆角。

本实用新型的有益效果在于：Flash芯片的第一插头与固定座的插口插接，Flash芯片的第二插头与固定座的插槽插接，同一块Flash底板可以多次使用，节省了时间成本、物料成本和人工成本。

附图说明

图1是本实用新型实施例的一种适用于TF卡测试分析架的结构示意图；