[实用新型]一种使用方便的电子元器件测试装置

权利要求书

1.一种使用方便的电子元器件测试装置，包括测试座盒体（1），所述测试座盒体（1）通过铰链（2）与检测盖（3）铰接，所述检测盖（3）中部一体式设有压板（31），其特征在于：所述测试座盒体（1）左右两侧对称的设有指槽（4），所述测试座盒体（1）空腔内侧壁滑动连接有承载台（5），所述承载台（5）底部四角均开设有凹槽（51），所述凹槽（51）内设有升降杆（6），所述升降杆（6）远离凹槽（51）一端贯穿基座筒（7）上端中部通孔与支撑板（8）上端固定连接，所述支撑板（8）下方设有弹簧（9），且支撑板（8）和弹簧（9）均位于基座筒（7）内，所述基座筒（7）底部固定连接在测试座盒体（1）的空腔底面，所述承载台（5）空腔内侧壁滑动连接有检测板（10），所述检测板（10）上设有检测顶针（11），且检测板（10）下端固定连接有检测仪器（12），所述承载台（5）上端放置有电子元器件（13）。

2.根据权利要求1所述的一种使用方便的电子元器件测试装置，其特征在于：所述压板（31）厚度与电子元器件（13）厚度之和等于承载台（5）上表面与检测板（10）上表面间的距离，所述压板（31）所在的检测盖（3）的底面在盖合时与测试座盒体（1）上表面贴合。

3.根据权利要求1所述的一种使用方便的电子元器件测试装置，其特征在于：所述指槽（4）为圆弧形曲面结构，且指槽（4）的高度小于电子元器件（13）厚度。

4.根据权利要求1所述的一种使用方便的电子元器件测试装置，其特征在于：所述承载台（5）为“回”字形方管状结构，承载台（5）上未放置电子元器件（13）时，承载台（5）上表面与指槽（4）最低处平齐，且承载台（5）上表面高于检测板（10）上表面。

5.根据权利要求1所述的一种使用方便的电子元器件测试装置，其特征在于：所述升降杆（6）高度及弹簧（9）伸缩高度均大于电子元器件（13）下底面至检测板（10）上端表面的距离。