[实用新型]一种插座快速老化测试装置有效
| 申请号： | 201920710112.4 | 申请日： | 2019-05-17 |
| 公开（公告）号： | CN210243812U | 公开（公告）日： | 2020-04-03 |
| 发明（设计）人： | 张涛;沈伟;李星晨;江德军;沈能;姬敏杰;孔祥明;陈燕;蔡美行 | 申请（专利权）人： | 长兴博泰电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/68 | 分类号： | G01R31/68;G01R31/01 |
| 代理公司： | 浙江千克知识产权代理有限公司 33246 | 代理人： | 赵卫康 |
| 地址： | 313000 浙江省湖*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 插座 快速 老化 测试 装置 | ||
1.一种插座快速老化测试装置，其特征在于，包括：
插头容纳腔，用于容纳插座的所有插头；
所述插头容纳腔，包括测试正电极、测试负电极和朝上的插座插口；
所述测试正电极包括用于与所述插座的正极插头电接触的电接触部，所述测试负电极包括用于与所述插座的负极插头电接触的电接触部；
驱动装置，用于驱动所述测试正电极和/或所述测试负电极，使得其电接触部能够与所述插座的对应插头电接触或分离。
2.根据权利要求1所述的一种插座快速老化测试装置，其特征在于：
所述驱动装置，用于驱动所述测试负电极，使得其电接触部能与所述插座的负极插头电接触或分离；
所述测试正电极固定在所述插头容纳腔中。
3.根据权利要求1所述的一种插座快速老化测试装置，其特征在于：
所述驱动装置，用于驱动所述测试正电极，使得其电接触部能与所述插座的正极插头分离；
所述测试负电极固定在所述插头容纳腔中。
4.根据权利要求1所述的一种插座快速老化测试装置，其特征在于：
所述驱动装置，用于驱动所述测试负电极和所述测试正电极，使得所述测试负电极的电接触部能与所述插座的负极插头电接触或分离、所述测试正电极的电接触部能与所述插座的正极插头电接触或分离。
5.根据权利要求2-4中任一项所述的插座快速老化测试装置，其特征在于：
所述驱动装置为驱动气缸。
6.根据权利要求5所述的一种插座快速老化测试装置，其特征在于，还包括：
所述插座插口处设有插座限位结构。
7.根据权利要求6所述的一种插座快速老化测试装置，其特征在于：
所述插座限位结构包括在所述插座插口处下凹的限位槽。
8.根据权利要求1所述的一种插座快速老化测试装置，其特征在于：
所述插头容纳腔的横截面为三角形。
9.根据权利要求1所述的一种插座快速老化测试装置，其特征在于：
所述插头容纳腔有多个。
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