[实用新型]一种插座快速老化测试装置

说明书

本实用新型属于插座测试技术领域，具体涉及一种插座快速老化测试装置。包括：插头容纳腔，用于容纳插座的所有插头；所述插头容纳腔，包括测试正电极、测试负电极和朝上的插座插口；所述测试正电极包括用于与所述插座的正极插头电接触的电接触部，所述测试负电极包括用于与所述插座的负极插头电接触的电接触部；驱动装置，用于驱动所述测试正电极和/或所述测试负电极，使得其电接触部能够与所述插座的对应插头电接触或分离。上述技术方案中，直接将待测试的插座插头朝下放入至插头容纳腔，由驱动装置驱动插头容纳腔中的电极靠近或者远离对应的插头实现测试正、负电极与插座的电接触，测试过程更加方便。

技术领域

本实用新型属于插座测试技术领域，具体涉及一种插座快速老化测试装置。

背景技术

为保证插座类产品性能符合标准，在出厂前需要对其进行通断性能测试，以保证出厂产品性能可靠；同时，根据国家相关法规和标准及其他国际通用标准，对插座类产品的耐高压性能也有一定的要求，因此各个插座类产品生产商在其产品出厂前都需进行相关的测试。

授权公告号CN208043954U，授权公告日2018年11月2日的实用新型专利公开了一种充电器老化测试仪，用于充电器老化过程和测试过程的一体进行，避免频繁的插拔动作带来的测试困扰。但是，该测试仪时需要将充电器的插头对准双头插座插入进行测试，测试结束后将充电器从插座中拔出。如果双头插座是立式设计的，如果插孔设计的比较松，充电器容易在重力作用下落下；如果插孔设计的比较紧，充电器在插拔的时候比较费力，使得测试过程的操作不便。

实用新型内容

本发明的目的在于提供一种插座快速老化测试装置，其特征在于，包括：

插头容纳腔，用于容纳插座的所有插头；

所述插头容纳腔，包括测试正电极、测试负电极和朝上的插座插口；

所述测试正电极包括用于与所述插座的正极插头电接触的电接触部，所述测试负电极包括用于与所述插座的负极插头电接触的电接触部；

驱动装置，用于驱动所述测试正电极和/或所述测试负电极，使得其电接触部能够与所述插座的对应插头电接触或分离。

上述技术方案中，直接将待测试的插座插头朝下放入至插头容纳腔，由驱动装置驱动插头容纳腔中的电极靠近或者远离对应的插头实现测试正、负电极与插座的电接触，测试过程更加方便。

作为优选，所述驱动装置，用于驱动所述测试负电极，使得其电接触部能与所述插座的负极插头电接触或分离；所述测试正电极固定在所述插头容纳腔中。

作为优选，所述驱动装置，用于驱动所述测试正电极，使得其电接触部能与所述插座的正极插头分离；所述测试负电极固定在所述插头容纳腔中。

作为优选，所述驱动装置，用于驱动所述测试负电极和所述测试正电极，使得所述测试负电极的电接触部能与所述插座的负极插头电接触或分离、所述测试正电极的电接触部能与所述插座的正极插头电接触或分离。

作为优选，所述驱动装置为驱动气缸。

作为优选，所述插座插口处设有插座限位结构。防止插座在测试过程中被移位，保证测试环境和测试条件的稳定。

作为优选，所述插座限位结构包括在所述插座插口处下凹的限位槽。插座限位结构设计简单，便于操作。

作为优选，所述插头容纳腔的横截面为三角形。便于将待测试的插座按照统一的方向放入到插头容纳腔中。

作为优选，所述插头容纳腔有多个。便于实现批量化的测试操作，提高测试效率。

本实用新型具有如下技术效果：

1.不需要将待测试的插座插拔到测试装置上，测试过程的更加方便。