[实用新型]芯片载板有效
申请号: | 201920734988.2 | 申请日: | 2019-05-21 |
公开(公告)号: | CN209804618U | 公开(公告)日: | 2019-12-17 |
发明(设计)人: | 汪鹏辉 | 申请(专利权)人: | 深圳市汇顶科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/673 | 分类号: | H01L21/673;H01L21/68 |
代理公司: | 11545 北京合智同创知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李杰 |
地址: | 518045 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 填充物 芯片载板 定位孔 光学定位单元 板本体 光学对比度 激光切割 载板本体 填充 切割 芯片 申请 | ||
1.一种芯片载板,其特征在于,包括:载板本体,以及光学定位单元;所述光学定位单元包括:定位孔、填充物,所述定位孔设置在所述载板本体上,所述定位孔内填充所述填充物,所述填充物与所述载板本体具有可区分的光学对比度,以对位于所述芯片载板上的芯片进行定位。
2.根据权利要求1所述芯片载板,其特征在于,所述填充物与所述载板本体对光线进行反射以形成频率不同或者光强不同的反射光,以使得所述填充物与所述载板本体具有可区分的光学对比度。
3.根据权利要求1所述芯片载板,其特征在于,所述载板本体为单层金属板。
4.根据权利要求1所述芯片载板,其特征在于,所述载板本体表面覆盖电镀金属层。
5.根据权利要求1所述芯片载板,其特征在于,所述光学定位单元包括多个定位孔和一个连接块,多个所述定位孔组成阵列结构,所述连接块具有多个分叉,每相邻两个所述定位孔之间通过一个所述分叉连接。
6.根据权利要求5所述芯片载板,其特征在于,所述连接块的每个分叉的末端设置有凹槽,所述凹槽内填充所述填充物,多个所述定位孔与多个所述凹槽通过所述填充物连通。
7.根据权利要求5所述芯片载板,其特征在于,所述定位孔的平面形状为正方形,所述连接块的平面形状为十字型。
8.根据权利要求7所述芯片载板,其特征在于,正方形的所述定位孔的数量为4个,4个所述定位孔组成正方形的阵列结构,每相邻两个正方形的所述定位孔之间通过十字型的所述连接块的一个分叉连接。
9.根据权利要求1所述芯片载板,其特征在于,所述光学定位单元包括多个定位孔和多个连接块,多个所述定位孔与多个连接块整体组成环状结构,每两个相邻所述定位孔之间通过一个所述连接块连接。
10.根据权利要求9所述芯片载板,其特征在于,每个所述连接块上设置有凹槽,所述凹槽作为将所述填充物填充到所述定位孔中的填充通道。
11.根据权利要求9所述芯片载板,其特征在于,所述定位孔的平面形状为L形,所述连接块的平面形状为矩形。
12.根据权利要求9所述芯片载板,其特征在于,L形的所述定位孔的数量为4个,矩形的所述连接块的数量为4个,4个L形的所述定位孔与4个矩形的所述连接块整体组成矩形环状结构,每两个相邻L形的所述定位孔之间分别通过一个矩形的所述连接块连接。
13.根据权利要求1中所述芯片载板,其特征在于,所述载板本体的至少一表面上设置有塑封区域,所述塑封区域被划分有多个封装芯片区域,每个封装芯片区域用于封装一颗所述芯片。
14.根据权利要求13中所述芯片载板,其特征在于,所述光学定位单元整体或者部分位于所述塑封区域内。
15.根据权利要求14所述芯片载板,其特征在于,若所述光学定位单元部分位于塑封区域内,位于所述塑封区域内的定位孔与位于所述塑封区域外的定位孔通过设置在载板本体上的凹槽连接,所述凹槽作为将所述填充物填充到位于塑封区域外的定位孔中的填充通道。
16.根据权利要求1-15任一项中所述芯片载板,其特征在于,所述定位孔为通孔,所述通孔贯通所述载板本体。
17.根据权利要求1-15任一项中所述芯片载板,其特征在于,所述定位孔为盲孔,所述盲孔设置在所述载板本体的一表面,在所述盲孔和所述载板本体的另一表面之间具有通道,所述盲孔与所述通道配合贯通所述载板本体。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市汇顶科技股份有限公司,未经深圳市汇顶科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201920734988.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造