[实用新型]读写器测试平台

权利要求书

1.一种读写器测试平台，用于检测非接触式IC卡读写器，其特征在于，所述读写器测试平台包括：

机架，具有一操作台，所述操作台包括上操作台以及下操作台；

读写器，包括主机和感应器，所述主机和所述感应器电性连接；

第一待检测读写器，包括第一主机和第一感应器，所述第一主机和所述第一感应器电性连接，所述感应器和所述第一感应器放置于所述上操作台，所述主机和所述第一主机放置于所述下操作台；

微处理器，所述微处理器分别与所述第一主机和所述主机电连接；以及

移动放置机构，安装于所述机架上，且位于所述操作台的上方，所述移动放置机构用以将非接触式IC卡反复贴近所述感应器和/或所述第一感应器，以实现对非接触式IC卡的读写检测。

2.如权利要求1所述的读写器测试平台，其特征在于，所述移动放置机构包括：

第一横向移动机构，所述第一横向移动机构的移动方向为第一水平方向；

第二横向移动机构，安装在所述第一横向移动机构的移动端上，所述第二横向移动机构的移动方向为第二水平方向，所述第一水平方向和所述第二水平方向垂直；

纵向移动机构，安装在所述第二横向移动机构的移动端上，所述纵向移动机构的移动方向为竖直方向；

吸取件，设于所述纵向移动机构的下端，用于吸取非接触式IC卡。

3.如权利要求2所述的读写器测试平台，其特征在于，所述读写器测试平台还包括与所述纵向移动机构电连接的控制器，所述控制器用于控制将非接触式IC卡分别置于距所述第一感应器不同高度的位置处，以检测所述第一感应器的感应距离。

4.如权利要求3所述的读写器测试平台，其特征在于，所述感应器和所述第一感应器的上表面设有供非接触式IC卡放置的第一容置槽。

5.如权利要求4所述的读写器测试平台，其特征在于，所述读写器测试平台还设有第二待检测读写器，包括第二主机和第二感应器，所述第二主机和所述第二感应器电性连接，所述微处理器与所述第二主机相连；

所述第二感应器的上表面设有供非接触式IC卡放置的第二容置槽，所述第一容置槽的面积大于所述第二容置槽的面积。

6.如权利要求5所述的读写器测试平台，其特征在于，所述读写器测试平台还包括读写器检测装置，设于所述操作台上，所述读写器检测装置包括检测线圈，所述吸取件吸取所述检测线圈至靠近所述第一感应器的上方，以使所述检测线圈产生检测信号；或

所述吸取件吸取所述检测线圈至靠近所述第二感应器的上方，以使所述检测线圈产生检测信号。

7.如权利要求6所述的读写器测试平台，其特征在于，所述感应器和所述第一感应器以及所述第二感应器可拆卸安装在所述操作台上。

8.如权利要求7所述的读写器测试平台，其特征在于，所述感应器和所述第一感应器以及所述第二感应器以螺钉连接、胶粘的方式固定安装于所述操作台上。

9.如权利要求1所述的读写器测试平台，其特征在于，所述操作台设置有可放置多个非接触式IC卡的收纳盒。

10.如权利要求5所述的读写器测试平台，其特征在于，所述第一待检测读写器设有多个，且在所述操作台上呈多排设置；和/或

所述第二待检测读写器设有多个，且在所述操作台上呈多排设置。