[实用新型]读写器测试平台

说明书

本实用新型公开一种读写器测试平台，用于检测非接触式IC卡读写器，其中，读写器测试平台包括机架、标准读写器、第一待检测读写器、微处理器以及安装于所述机架上的移动放置机构；机架具有一操作台，操作台包括上下两层；标准读写器包括电性连接的标准主机和所述标准感应器；第一待检测读写器包括电性连接的第一主机和第一感应器；微处理器分别与第一主机和标准主机电连接；标准感应器和第一感应器放置于上操作台，标准主机和第一主机放置于下操作台；移动放置机构位于操作台的上方，用以将非接触式IC卡反复贴近标准感应器和/或第一感应器，以实现对非接触式IC卡的读写检测。本实用新型技术方案可以提高检测非接触式IC卡读写器的检测效率和检测精度。

技术领域

本实用新型涉及读写器测试设备技术领域，特别涉及一种读写器测试平台。

背景技术

目前广泛应用的交通卡、非接触式IC卡的读写器等，在投入市场之前都必须进行模拟测试实际刷卡使用时读写器的成功率，以便保证进入市场的均为性能合格的读写器，由于现有的测试手法是通过人手一张张将非接触式IC卡放在非接触式IC卡读写器进行检测，浪费了大量人力物力；以及现有的读写器的无法满足多种交通卡或非接触式IC卡的测试需要，而且无法对所测结果进行检验，存在检验精度低的情况。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提出一种读写器测试平台，旨在提高检验读写器的检测效率和检测精度。

为实现上述目的，本实用新型提出的读写器测试平台，用于检测非接触式IC卡读写器，所述读写器测试平台包括：

机架，具有一操作台，所述操作台包括上操作台以及下操作台；

标准读写器，包括标准主机和标准感应器，所述标准主机和所述标准感应器电性连接；

第一待检测读写器，包括第一主机和第一感应器，所述第一主机和所述第一感应器电性连接，所述标准感应器和所述第一感应器放置于所述上操作台，所述标准主机和所述第一主机放置于所述下操作台；

微处理器，所述微处理器分别与所述第一主机和所述标准主机电连接；以及

移动放置机构，安装于所述机架上，且位于所述操作台的上方，所述移动放置机构用以将非接触式IC卡反复贴近所述标准感应器和/或所述第一感应器，以实现对非接触式IC卡的读写检测。

优选地，所述移动放置机构包括：

第一横向移动机构，所述第一横向移动机构的移动方向为第一水平方向；

第二横向移动机构，安装在所述第一横向移动机构的移动端上，所述第二横向移动机构的移动方向为第二水平方向，所述第一水平方向和所述第二水平方向垂直；

纵向移动机构，安装在所述第二横向移动机构的移动端上，所述纵向移动机构的移动方向为竖直方向；

吸取件，设于所述纵向移动机构的下端，用于吸取非接触式IC卡。

优选地，所述读写器测试平台还包括与所述纵向移动机构电连接的控制器，所述控制器用于控制将非接触式IC卡分别置于距所述第一感应器不同高度的位置处，以检测所述第一感应器的感应距离。

优选地，所述标准感应器和所述第一感应器的上表面设有供非接触式IC卡放置的第一容置槽。

优选地，所述读写器测试平台还设有第二待检测读写器，包括第二主机和第二感应器，所述第二主机和所述第二感应器电性连接，所述微处理器与所述第二主机相连；

所述第二感应器的上表面设有供非接触式IC卡放置的第二容置槽，所述第一容置槽的面积大于所述第二容置槽的面积。