[实用新型]一种晶振频率测量系统有效

专利信息
申请号: 201920832994.1 申请日: 2019-06-04
公开(公告)号: CN210742385U 公开(公告)日: 2020-06-12
发明(设计)人: 荆亮;郑维宏 申请(专利权)人: 福建星网视易信息系统有限公司
主分类号: G01R23/02 分类号: G01R23/02
代理公司: 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 代理人: 宋连梅
地址: 350000 福建省福州市仓山区建*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 频率 测量 系统
【权利要求书】:

1.一种晶振频率测量系统,其特征在于:包括一晶振电路、一探头以及一频率计;所述探头的一端与晶振电路连接,另一端与所述频率计连接;所述频率计与晶振电路连接;

所述探头包括一电容组C3X以及一等效电阻R3;所述电容组C3X与等效电阻R3并联;所述等效电阻R3的一端与晶振电路连接,另一端与所述频率计连接。

2.如权利要求1所述的一种晶振频率测量系统,其特征在于:所述电容组C3X的容量范围为0.5pF至1pF。

3.如权利要求1所述的一种晶振频率测量系统,其特征在于:所述电容组C3X由一个以上的电容串联组成。

4.如权利要求1所述的一种晶振频率测量系统,其特征在于:所述电容组C3X通过特性阻抗为50-75Ω的同轴线缆与等效电阻R3并联。

5.如权利要求1所述的一种晶振频率测量系统,其特征在于:所述频率计包括一等效寄生电容C4以及一等效电阻R4;所述等效寄生电容C4与等效电阻R4并联;所述等效电阻R4的一端与探头连接,另一端与所述晶振电路连接。

6.如权利要求1所述的一种晶振频率测量系统,其特征在于:所述晶振电路包括一晶振X1、一电容C1、一电容C2、一电阻R1、一反馈电阻Rf以及一非门F1;

所述非门F1与反馈电阻Rf并联后,一端与所述电容C2以及晶振X1连接,另一端与所述电阻R1连接;所述晶振X1分别与电阻R1、电容C1以及探头连接;所述电容C1与频率计连接并接地;所述电容C2接地。

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