[实用新型]一种晶振频率测量系统有效
申请号: | 201920832994.1 | 申请日: | 2019-06-04 |
公开(公告)号: | CN210742385U | 公开(公告)日: | 2020-06-12 |
发明(设计)人: | 荆亮;郑维宏 | 申请(专利权)人: | 福建星网视易信息系统有限公司 |
主分类号: | G01R23/02 | 分类号: | G01R23/02 |
代理公司: | 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 | 代理人: | 宋连梅 |
地址: | 350000 福建省福州市仓山区建*** | 国省代码: | 福建;35 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 频率 测量 系统 | ||
本实用新型提供了晶振频率测量领域的一种晶振频率测量系统,包括一晶振电路、一探头以及一频率计;所述探头的一端与晶振电路连接,另一端与所述频率计连接;所述频率计与晶振电路连接;所述探头包括一电容组C3X以及一等效电阻R3;所述电容组C3X与等效电阻R3并联;所述等效电阻R3的一端与晶振电路连接,另一端与所述频率计连接。本实用新型的优点在于:减少了寄生电容对晶振频率测量所产生的影响,进而提高了晶振频率的测量精度。
技术领域
本实用新型涉及晶振频率测量领域,特别指一种晶振频率测量系统。
背景技术
石英晶体振荡器(晶振)是高精度和高稳定度的振荡器,被广泛应用于彩电、计算机、遥控器等各类振荡电路中,以及通信系统中用于频率发生器、为数据处理设备产生时钟信号和为特定系统提供基准信号。因此,晶振频率测量是验证主板的电气可靠性的重要环节。
针对晶振频率的测量通常采用频率计,原理是频率计通过探头采集晶振的电压波形后,在频率计内对电压波形进行分析进而达到对晶振频率测量的目的。然而,传统的频率计由于存在寄生电容,导致通过频率计测量晶振频率时将寄生电容附加在晶振上,从而改变了电路的工作状态,造成晶振频率的测量结果产生偏差,甚至引起电路工作异常。
因此,如何提供一种晶振频率测量系统,减少寄生电容对晶振频率测量所产生的影响,进而提高晶振频率的测量精度,成为一个亟待解决的问题。
发明内容
本实用新型要解决的技术问题,在于提供一种晶振频率测量系统,实现提高晶振频率的测量精度。
本实用新型是这样实现的:一种晶振频率测量系统,包括一晶振电路、一探头以及一频率计;所述探头的一端与晶振电路连接,另一端与所述频率计连接;所述频率计与晶振电路连接;
所述探头包括一电容组C3X以及一等效电阻R3;所述电容组C3X与等效电阻R3并联;所述等效电阻R3的一端与晶振电路连接,另一端与所述频率计连接。
进一步地,所述电容组C3X的容量范围为0.5pF至1pF。
进一步地,所述电容组C3X由一个以上的电容串联组成。
进一步地,所述电容组C3X通过特性阻抗为50-75Ω的同轴线缆与等效电阻R3并联。
进一步地,所述频率计包括一等效寄生电容C4以及一等效电阻R4;所述等效寄生电容C4与等效电阻R4并联;所述等效电阻R4的一端与探头连接,另一端与所述晶振电路连接。
进一步地,所述晶振电路包括一晶振X1、一电容C1、一电容C2、一电阻R1、一反馈电阻Rf以及一非门F1;
所述非门F1与反馈电阻Rf并联后,一端与所述电容C2以及晶振X1连接,另一端与所述电阻R1连接;所述晶振X1分别与电阻R1、电容C1以及探头连接;所述电容C1与频率计连接并接地;所述电容C2接地。
本实用新型的优点在于:通过在所述探头的等效电阻R3上利用特性阻抗为50-75Ω的同轴线缆并联一个容量为0.5-1pF的电容组C3X,即所述电容组C3X与等效寄生电容C4串联,使得串联后的等效电容值小于等效寄生电容C4的电容值,进而使得所述频率计工作在并联谐振模式下时减小对电容C1的影响,提高晶振频率的测量精度。
附图说明
下面参照附图结合实施例对本实用新型作进一步的说明。
图1是本实用新型一种晶振频率测量系统的电路图。
具体实施方式
请参照图1所示,本实用新型一种晶振频率测量系统的较佳实施例,包括一晶振电路、一探头以及一频率计;所述探头的一端与晶振电路连接,另一端与所述频率计连接;所述频率计与晶振电路连接;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于福建星网视易信息系统有限公司,未经福建星网视易信息系统有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201920832994.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种具有多级净化功能的排烟装置
- 下一篇:一种组合式切割机